ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Определение ошибки по AVG-шкале из "Практические вопросы испытания металлов " Следует определить мертвую зону трех данных испытательных систем для различных материалов [29, с. 97—102 30, с. 211—213]. [c.197] Прибор для ультразвукового испытания материалов, ступенчатые клинья (из стали, алюминия и т. д.), испытательный кабель, испытательные головки (2 4 и 6 МГц). [c.197] От одноголовочного агрегата передающее напряжение порядка 10 —10 В подается одновременно на испытательную головку и на вход усилителя. Однако после включения усилитель должен быть в состоянии усиливать очень маленькие напряжения отраженных сигналов (10 —10 В). Наблюдается эффект запирания передаваемого импульса. Вместе с тем, кроме уменьшения усиления, часто происходит отклонение от линейности. Следствием этого при испытании образцов является то, что сигналы, которые получаются в результате отражения вблизи поверхности, проявляются на экране очень слабо или вообще не проявляются. Этот факт сильно затрудняет испытание тонкостенных изделий и определение расположенных вблизи от поверхности неоднородностей. [c.197] Область перед испытательной головкой, в которой отраженный сигнал не усиливается без помех, обычно называют мертвой зоной. Знание этой зоны имеет значение для многих технических проблем, связанных с вопросами измерения и испытания. Однако мертвая зона не является величиной времени прохождения сигнала в чистом виде, которую можно рассчитать через скорость звука умноженную на толщину материалов. Она является в большей степени свойством испытательной системы (прибор—испытательная головка—кабель). На величину мертвой зоны влияют также колебания передаваемых сигналов, которые в результате интерференции с отраженными в поверхностной зоне сигналами приводят к образованию максимумов и минимумов, через демпфирование вибратора и условия связи. [c.197] После включения прибора подключаются испытательный кабель и испытательная головка. Затем помещается испытательная головка на наибольшую ступеньку и получают сигнал, отраженный от задней стенки. Устанавливается базовая высота отраженного сигнала (верхний обрез экрана). Теперь получают первый отраженный сигнал и измеряется высота. Если используемый прибор не имеет проградуированного усилителя, то можно вычислить падение на 1 дБ по высоте на экране. Если имеется проградуированный в децибелах датчик, то добавляется после установки базовой высоты отраженного сигнала еще 1 дБ. Мертвая зона располагается в данном случае на ступеньке, у которой снова наблюдается базовая высота. [c.198] Изменение высот отраженных сигналов следует представить графически (см. рис. 105) и определить зону для испытательной системы. Результаты обсуждаются, принимая во внимание материал и вид испытательной головки (частоту, диаметр, включение-выключение). [c.198] Изготовление АУО-шкалы для определения эквивалентного коэффициента отражения при ультразвуковом испытании с помощью угловой испытательной головки способом обратно отраженного импульсного сигнала [1, с. 286—291 29, с. 116—128 30, с. 86—102, 338—342 31 54—54]. [c.198] Ультразвуковой дефектоскоп для испытания материала по методу отраженных импульсов с наглядным датчиком усиления, контрольным (измерительным) кабелем, угловым щупом дефектоскопа, контрольным образцом I и контрольным образцом II, одним комплектом контрольных образцов с отверстиями в плоском дне (с перфорированным днищем), прозрачная круглая насадка (форзац-диск) для установки перед экраном, измерительная линейка. [c.199] При ультразвуковом контроле материалов методом отраженных импульсов с показаниями на экране имеется рефлектограмма для оценки результатов, исходя из которой может быть определено расстояние рефлектора от контрольного щупа и характеристика рефлектора по высоте эхо, которая пропорциональна переменному давлению ультразвука, воспринятого и отраженного щупом. [c.199] Зависимость высоты сигнала эхо или установленного усиления от расстояния до щупа и характеристики отражателя представлена на общей Л КС-диаграмме (расстояние—усиление—погрешность) (рис. 106). Общая Л УС-диаграмма содержит на оси абсцисс редуцированное (уменьшенное) расстояние Л рефлектора в логарифмическом представлении, на оси ординат — усиление V в децибелах и в качестве параметра кривой — редуцированную характеристику рефлектора сравнения (эталонного рефлектора) С . [c.199] На специальной Л УС-диаграмме (рис. 107) непосредственно даны расстояние и характеристика эталонного отражателя. Они применимы только для соответствующих контрольных щупов с / = 4 МГц и размерами вибратора 8X9 мм Хд,= 25 мм (L — расстояние от передней кромки контрольного щупа до рефлектора). [c.199] Интервал применимости Л УС-диаграммы ограничен. Величина для отражателя должна быть меньше, чем диаметр ультразвукового поля. Отражатель должен находиться в дальнем поле, так как вследствие интерференций в ближнем поле невозможны никакие оценимые измерения. [c.199] Для практического применения используются ЛУО-шкалы. При этом речь идет о фрагментах из Л УС-диаграммы, которые соответствуют представлению на экране и позволяют осуществлять прямое считывание характеристик для псевдоотражателя. [c.199] Шкалы могут быть выведены из общей Л УС-диаграммы или получены при испытаниях эталонных образцов. [c.201] Для углового щупа при контроле пластинчатых деталей (например сварного шва) преимущественным является эмпирическое получение шкал, так как отношения при определении шкал и при испытании являются одинаково громоздкими. [c.201] Для проведения испытания нужно поместить перед экраном прозрачный диск насадки. [c.201] Соответственно выбранному интервалу испытания нужно осуществить юстировку расстояния на сокращенном проекционном отрезке. На диск передней насадки нужно наложить шкалу с делениями, которая делает возможным дальнейшее считывание показаний расстояния. [c.201] Для облегчения юстировки расстояния с использованием шкалы нужно нанести две метки, которые совпадают с первыми двумя эхо-показаниями от контрольного образца И при воздействии ультразвука на дуге 25 или 50 мм. [c.201] Установленная вначале юстировка при этом не меняется. [c.201] Такая установка усиления должна сохраняться для всего периода снятия кривых по величинам-характеристикам отражателя. [c.201] Вернуться к основной статье