ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Приборы для оценки шероховатости поверхности из "Полирование металлов и сплавов " Для более точной оценки шероховатости поверхности используют другие приборы. Наиболее распространенными из них являются двойной микроскоп Линника МИС-11, микроинтерферометр МИИ-4, профилограф-про-филометр завода Калибр модели 201, 240, 202. [c.29] Двойной микроскоп Линника МИС-11. В 1929 г. советский ученый академик В. П, Линник предложил прибор для оценки шероховатости поверхности, основанный на методе светового сечения (рис. 11, а). В приборе луч света направляется на поверхность под определенным углом. С противоположной стороны под таким же углом производится наблюдение. Если луч света попадает на гладкую поверхность, то мы увидим узкую ровную световую полоску. В том случае, когда на поверхности имеются какие-нибудь неровности, наблюдатель увидит изломанную световую полоску (рис. 11, б). [c.29] Измерив величину световой полоски, определяют высоту неровностей в микронах. Прибор Линника дает увеличение до 318 раз. Применив соответствующий микрообъектив, этим прибором можно определить высоту неровностей с 3-го по 9-й класс. [c.29] Прибор имеет массивное основание 1, на котором установлена колонна 8, держатель 5 тубусов микроскопа, который может свободно перемещаться вдоль колонны при помощи кронштейна 9. В держателе установлены тубусы проектирующего микроскопа 10 и микроскопа наблюдения 3. [c.29] В верхней части проектирующего микроскопа укреплен патрон с электролампочкой мощностью 9 Вт. Патрон при регулировке освещения можно передвигать. В верхней части микроскопа наблюдения установлен винтовой окуляр 4, предназначенный для визуальных измерений. [c.29] Для фотографирования вместо винтового окуляра устанавливается фотонасадка МФН-1 с обычным окуляром. Фокусировка двойного микроскопа осуществляется при помощи кремальеры 7 и микрометрического механизма 6 тонкой наводки. Для установки исследуемой детали служит столик 11, который может передвигаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях при помощи микрометрических винтов 2, а также поворачиваться вокруг вертикальной оси. [c.29] Электрическая лампочка питается через трансформатор от сети переменного тока 127/220 В. Накал лампочки может регулироваться реостатом, вмонтированным в корпус трансформатора. Для измерения неровностей различных классов чистоты к прибору прилагаются четыре пары сменных микрообъективов. Действие большой группы приборов для оценки шероховатости поверхности (профилометры и профилографы) основано на методе ощ,упывания поверхности. Ощупывание осуществляется специальной алмазной иглой с малым радиусом закругления вершины — до 10 мкм. В процессе измерения игла с очень небольшим давлением двигается по поверхности детали, то поднимаясь на гребешки, то опускаясь во впадины. Таким образом, игла копирует поверхность, воспроизводя своими движениями все имеющиеся на ней неровности. [c.30] В некоторых приборах (например, в приборе модели 201) игла связана с проводником электрического тока, находящимся в постоянном магнитном поле] При перемещении иглы вверх и вниз проводник, двигаясь за иглой, пересекает линии магнитного поля. От этого в проводнике возбуждается электрический ток, величина которого зависит от высоты подъема иглы, т. е. от величины перемещения проводника в магнитном поле. Ток по проводнику через усилитель передается регистрирующему устройству, которое показывает величину шероховатости в микрометрах. Такие приборы называются профило-метрами, а приборы, при помощи которых можно снять профилограмму, называются профилограф а-м и. Наиболее точным прибором, которым можно снимать величину шероховатости и записывать профиль неровностей в увеличенном масштабе, является профило-граф-профилометр модели 201, 202. [c.30] Прибор модели 202 (рис. 12, а) состоит из отдельных блоков станины /, универсального столика 2 с регулирующим винтом 3, моторного привода 4, самописца с электротермической записью 5. [c.30] Вернуться к основной статье