ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Технические средства и способы контроля из "Технология электровакуумного производства Часть 1 " Для угловых измерений применяют угломеры с отсчетом по нониусу, синусные линейки, жесткие угловые меры и измерительные микроскопы. [c.77] Контроль отклонений от правильной формы сводится к измерению овальности, бочкообразности, вогнутости, изогнутости оси и конусности в цилиндрических деталях в плоских — к определению прямолинейности и плоскостности. Методы контроля не отличаются от общепринятых в машиностроении. [c.77] При контроле взаимного расположения поверхностей измеряют эксцентрицитет (несоосность), радиальное и торцовое биения, расстояние между осями отверстий, не-перпендикулярность и непараллельность плоскостей. Контроль осуществляется также распространенными в машиностроении методами, но с применением во многих случаях специальных комплексных калибров и приспособлений в соответствии со сложной конфигурацией деталей. [c.77] Для контроля некоторых деталей и узлов используются специальные методы, отмечаемые во втором и последующем разделах курса. [c.77] В соответствии с принципиальной схемой проектора (рис. 2-20,а) свет от источника 1 через конденсор 2 направляется параллельным пучком на измеряемую деталь 3 и по выходе из объектива 4 поступает на экран 5, где наблюдается увеличенное, действительное и обратное изображение контролируемого объекта. [c.78] Если отклонения параллельны перемещениям стола, их величина определяется по разности отсчетов барабанов микрометрических винтов. [c.79] Методы оценки чистоты поверхности. Качественная оценка чистоты поверхности производится непосредственным визуальным сравнением контролируемых деталей с эталонами, изготовленными по среднему разряду соответствующего класса. [c.79] Для количественного определения величины шероховатостей иногда применяется предложенный акад. В. П. Лннником метод светового сечения. [c.79] Этот метод состоит в том, что через узкую щель и объективы на измеряемую поверхность под некоторым углом направляется пучок лучей в виде световой полоски. Эта полоска, рассматриваемая под микроскопом, наклоненным под тем же углом, имеет искривления, соответствующие по величине и форме шероховатостям измеряемой поверхности. [c.79] При наличии на контролируемой поверхности неровностей наблюдаются смещения изображения щели, величина которых может быть измерена окулярным микрометром. [c.80] Вернуться к основной статье