ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Методы и средства оценки шероховатости поверхности из "Технология машиностроения Издание 2 " Шероховатость поверхности оценивают двумя основными методами качественным и количественным. [c.63] Качественный метод оценки основан на сравнении обработанной поверхности с эталоном (образцом) поверхности посредством визуального сопоставления, сопоставления ощущений при ощупывании рукой (пальцем, ладонью, ногтем) и сопоставления результатов наблюдений под микроскопом. [c.63] Визуальным опособом можно достаточно точно определять класс чистоты поверхности, за исключением весьма тонко обработанных поверхностей. [c.63] Эталоны, применяемые для оценки визуальным способом шероховатости поверхности, должны быть изготовлены из тех же материалов, с такой же формой поверхности и тем же методом, что и деталь. [c.64] Качественную оценку весьма тонко обработанных поверхностей следует производить с помощью микроскопов можно пользоваться лупой с пятикратным и большим увеличением. [c.64] Количественный метод оценки заключается в измерении микрогеометрии поверхности при помощи приборов профилографа К. М. Аммона, профилографа Б. М. Левина (мо дели ИЗП-17 и ИЗП-5), двойного микроскопа и микроинтерферометра В. П. Линника, профилометра Б. М. Киселева и др. [c.64] Схема профилограф)а Б. М. Левина (модель ИЗП-17) приведена на рис. 20. [c.64] Луч света от лампы 1 падает на зеркала 8 и 7, проходя через линзу 2, щель 3 и оптическую систему 5. [c.64] Зеркало 8 связано с ощупывающей иглой. Луч света, отраженный от зеркала 7 и затем от зеркала 8, проходит оптическую систему 6, попадая на зеркало 4 и далее на цилиндрическую линзу 14, проектирует изображение щели 3 на светочувствительную пленку 13, расположенную на барабане 12. Изображение щели проектируется в виде световой точки. [c.64] Деталь 10, поверхность которой подвергается измерению, располагается на верхнем диске стола 11, которому придается поступательное движение относительно иглы 9 с одновременным вращением барабана 12. [c.64] Скорость снятия профилограммы может меняться изменением скорости вращения барабана. Скорость перемещения стола 11 не зависит от скорости вращения барабана 12, что обеспечи вает получение трех горизонтальных масштабов с увеличением 25 и 50. [c.64] Размеров вертикального увеличения в пределах 2504-5000 достигают сменой объектива 6 и установкой иглы 9 в различные отверстия рычага. [c.64] От вертикального увеличения зависит максимальная высота микронеровностей, записываемая на барабане 12 от горизонтального увеличения зависит длина профилируемого участка ( 1,75- - 7 лж) исследуемой поверхности. [c.64] Для измерения микронеровностей в пределах от 4-г6 до 14-го классов чистоты поверхности применяют профилометр коН струкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы. [c.65] Датчик перемещается по проверяемой поверхности со скоростью 10—20 мм1сек. Давление иглы на поверхность проверяемой детали в пределах 0,5—2,5 Пмм . [c.65] При подключении к профилометру осциллографа можно получить профилограмму исследуемой поверхности. [c.65] Для измерения шероховатости поверхности от 3-го до 9-го классов чистоты применяют двойной микроскоп В. П. Линника (рис. 22). [c.65] Прибор состоит из двух частей микроскопа А для освещения исследуемой поверхности, микроскопа Б для наблюдения и измерения профиля поверхности. [c.65] Оси обеих част микроскопа наклонены под углом 45° к исследуемой поверхности с совпадением точек пересечения осей с предметными точками объективов. [c.65] Условные обозначения + экономичные классы — достижимые классы. [c.70] Вернуться к основной статье