ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Одноосные и двуосные кристаллы из "Оптика " Изложенное в предыдущих параграфах показывает, что рещение задач кристаллооптики можно свести к построению некоторых вспомогательных поверхностей. Мы рассмотрели две из них эллипсоид Френеля (для лучей) и эллипсоид индексов (для нормалей). Разумеется, все вспомогательные поверхности связаны между собой, так что знание одной из них позволяет более или менее сложным путем найти и остальные. Тем не менее применение различных поверхностей может оказаться полезным при разборе отдельных конкретных задач, решения которых особенно просто удается найти путем обсуждения свойств подходящей вспомогательной поверхности. [c.506] При помощи эллипсоида Френеля нетрудно геометрически определить в кристалле направления оптических осей первого рода. Оптические оси первого рода представляют собой те направления в кристалле, вдоль которых обе лучевые скорости равны друг другу (о = v ). Поэтому согласно правилу Френеля (см. 143) сечение эллипсоида, перпендикулярное к оптической оси первого рода, должно характеризоваться равенством своих полуосей. Другими словами, это сечение имеет форму круга. Таким образом, направление оптической оси первого рода соответствует линии, перпендикулярной к круговому сечению эллипсоида Френеля. Так как эллипсоид имеет не больше двух круговых сечений, расположенных симметрично относительно его главных осей, то кристалл в самом общем случае имеет две оптические оси, угол между которыми зависит от формы эллипсоида, т. е. от свойств кристалла (рис. 26.9). [c.506] Оптические оси перпендикулярны к круговым сечениям эллипсоида. [c.507] Показатель преломления, соответствующий направлению малой полуоси эллипсоида в случае положительных кристаллов и большой — в случае отрицательных кристаллов, называется показателем преломления необыкновенного луча ). [c.508] Значения показателей преломления (для X =. 689,3 нм) для исландского шпата Пд = 1,658 для обыкновенного луча и = 1,486 для необыкновенного луча для кварца Па = 1,543, Пе = = 1,552. [c.508] Существуют кристаллы с еще более резко выраженным различием в показателях преломления. Так, для натронной селитры NaNO , 11а = 1,585, Пе 1,337. К сожалению, недостаточная устойчивость селитры к влаге и механическим повреждениям затрудняет применение ее для оптических приборов. [c.508] Вернуться к основной статье