ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Термометрия шероховатых кристаллов из "Лазерная термометрия твердых тел " Форма спектра отражения для кристалла толщиной 0,5 мм при разных температурах качественно показана на рис. 5.9. Участок кривой Д(Л) в области точки перегиба аппроксимируют отрезком прямой. Далее с помощью экстраполяции находят длину волны Ло, в которой отрезок прямой пересекает ось абсцисс. Эта длина волны является функцией температуры, вид которой при фиксированной толщине пластинки находят с помощью калибровки. [c.116] При увеличении числа Бугера стремится к нулю, тогда как коэффициент отражения в случае пластины с двумя полированными поверхностями стремится к Кх. Сравнение формы спектров зеркального отражения полированных пластин и спектров диффузного рассеяния шероховатых пластин никем не проводилось, поэтому нет возможности оценить неточность, связанную с принятой гипотезой об идентичности многократных внутренних отражений в случаях полированных и шероховатых пластин. Вероятно, в реальной ситуации интенсивность пучков второго, третьего и т. д. порядков отражения убывает намного быстрее. [c.117] Использование описанного метода весьма эффективно в случае, когда все пластины в партии имеют одинаковую толщину (или ее изменение невелико, менее 10 %) и одинаковый микрорельеф шероховатости. Недостатком является необходимость новой калибровки при каждом изменении типа шероховатости (например, при переходе от кристаллов с поверхностью, ориентированной в плоскости /100/, к кристаллам /111/), а также существенном изменении толщины. [c.118] Вернуться к основной статье