ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Кварцевые отпечатки из "Практика электронной микроскопии " Значительно более прочными и контрастными, а самое главное более разрешающими, чем пластические отпечатки, являются одноступенчатые кварцевые отпечатки. [c.50] Следует указать, что разрешающая способность отпечатков, как показано в работах [60 61], кроме рассеивающей способности, зависит еще от различных факторов, в том числе от величины кристаллитов пленки-отпечатка, плотности его материала и толщины. У высокомолекулярных органических соединений, какими являются, например, коллодий, формвар, размер молекулярных комплексов может оказаться соизмеримым с размером отображаемых деталей. Это понижает возможности этих материалов в смысле получения высокоразрешающих отпечатков. Малая разрешаюпдая способность и низкий контраст объясняются у этих отпечатков главным образом малой плотностью применяемых пластиков и сравнительно большой толщиной используемых пленок. [c.50] Кварцевые отпечатки, относящиеся к неорганическим отпечаткам, обладают высокими свойствами как в отношении разрешающей способности и контраста, так и механической прочности и стойкости по отношению к электронной бомбардировке. [c.50] Для получения кварцевого отпечатка на металлографический ш лиф или другую, соответствующим образом подготовленную, поверхность, подлежащую исследованию, в вакууме напыляется слой кварца методом, совершенно аналогичным напылению кварцевых пленок-подложек. [c.50] Для напыления 1Можно применять кварц как в виде кусочков, так и в виде пасты, приготовленной из кварцевого порошка и вязкого раствора коллодия в амилацетате. Количество испаряемого кварца зависит от глубины рельефа исследуемой поверхности и колеблется обычно в пределах 2—4 мг при расстоянии между поверхностью образца и испарителем порядка 6—10 см. Чем глубже рельеф, тем большее количество кварца необходимо напылять. Толщина кварцевой пленки-отпечатка обычно колеблется в пределах 200—300 А [62—64]. [c.50] Давление, при котором производится напыление кварца на исследуемую поверхность, должно быть не выше 10 мм рт. ст. При более высоком давлении кварцевая пленка получается рыхлой, что приводит к ослаблению ее механической прочности. [c.50] Первый способ не всегда достаточно удобен, так как приходится нагревать сразу большое количество кварца, не требуемое для получения пленки заданной толщины, что увеличивает время испарения и может привести в связи с этим к чрезмерному нагреванию образца, а также ухудшению вакуума за счет газоотделения из кварца и внутренних частей установки. Кроме того, в разное время, в зависимости от количества кварца, оставшегося в испарителе, скорость испарения кварца будет различна, что позволяет лишь весьма приблизительно оценивать толщину пленки. В этом отношении более удобны второй и третий способы, так как полное испарение определенной навески дает возможность более точно определить толщину получаемой пленки-отпечатка. В том случае, когда отвесить заданную навеску, как, например, при испарении кускового кварца, затруднительно, то целесообразнее пользоваться третьим способом. Этот способ удобен также тем, что мол но испарять целый кусочек кварца, а не дробить его, что почти всегда приходится делать при отвешивании заданной навески. Маленькие же кусочки кварца могут выпасть сквозь витки спирали. [c.51] Толщину получаемой кварцевой пленки-отпечатка, зная навеску полностью испаряемого кварца и расстояние между образцом и испарителем, можно определить по табл. 5. Толщина кварцевой пленки приводится в ангстремах, расстояние в миллиметрах и навеска в миллиграммах. [c.51] Зная необходимую толщину пленки и расстояние между образцом и испарителем, по этой же таблице можно определить навеску кварца, испарение которого и даст пленку HyjKHoii толщины. [c.51] Эта таблица составлена на основании формулы (2) в предположении, что весь кварц, попадающий на образец, конденсируется, т. е. коэффициент отражения кварца равен нулю. В действительности не весь кварц, как мы уже говорили, конденсируется часть молекул отражается от поверхности образца и попадает на стенки колокола, из которых определенная часть снова отражается и попадает на образец. Таким образом, приведенная таблица дает возможность выбрать условия для воспроизведения пленки нужной толщины. [c.51] При напылении кварца следует учитывать его небольшую подвижность на поверхности металла, вследствие чего, в особенности при грубом рельефе, могут образовываться участки, не покрытые кварцем. При отделении кварцевого отпечатка такие участки могут явиться очагом разрушения отпечатка. Поэтому в том случае, если образец обладает грубым рельефом, целесообразно испарять кварц из нескольких расположенных друг около друга испарителей либо вращать образец во время испарения кварца. В некоторой степени этот нежелательный эффект уменьшается за счет попадания на такие участки образца молекул, отраженных от стенок вакуумного колокола, о чем было сказано выше. [c.53] Отделение кварцевого отпечатка можно производить всеми способами, указанными для отделения пластических отпечатков. [c.53] В отличие от пластических кварцевые отпечатки представляют собой пленки, которые можно считать равномерными по толщине. В связи с этим характер образования изобралсения такого отпечатка в электронном микроскопе, а следовательно, и расшифровка таких изображений будут не такими, как при пластических отпечатках. [c.53] Здесь отметим только, что способность их выдерживать значительной плотности ток в электронном пучке позволяет применять кварцевые отпечатки при очень больших увеличениях, когда приходится интенсифицировать яркость изображения на экране микроскопа увеличением тока в пучке. [c.55] Вернуться к основной статье