ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Облученные кристаллы из "Температурные измерения " Действие этих индикаторов основано на изменении параметров кристаллической решетки облученного нейтронами кристалла в зависимости от температуры и времени выдержки. Их преимущества — малые габариты, широта диапазона измерения температуры в большом интервале времени выдержки при обеспечении достаточно высокой точности В процессе облучения в кристаллических матёриалах накапливаются дефекты. При нагревании облученного вещества происходит уменьшение концентрации дефектов. Чем выше температура и продолжительнее вре.мя выдержки, тем большее количество дефектов отжигается. При этом свойства вещества частично или полностью восстанавливаются. [c.385] Рабоч график для определения температуры (ДР/1 о = 3,81 %). [c.386] Вернуться к основной статье