ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Прямое исследование в электронном микроскопе из "Металлы и сплавы Справочник " Ряд объектов исследования структуры металлов можно рассматривать нехюсредственно в электронном микроскопе. Это тонкие ( 0,1 мкм) металлические (главным образом конденсированные из паров) и окисленные пленки, частицы осадков, вьщеленных для фазового анализа, металлургические дымы, частицы порошков для порошковой металлургии и т. д. Дисперсные порошковые объекты наносят или непосредственно на медные или никелевые сеточки (150-300 меш) или на тонкие плоские пленки-подкладки, укрепленные на таких же сеточках. [c.32] Для того чтобы иметь возможность рассматривать отдельные частицы, применяют различные способы диспергирования. Для этого используют устройства, действующие по принципу пульверизатора, ультразвуковое облучение суспензии, перенос суспензии из жидкости с малым поверхностным натяжением в жидкость с большим поверхностным натяжением. Такое диспергирование в особенности необходимо при изучении частиц карбидных и интерметаллидных осадков, выделенных электролитически из сплава и легко слипающихся одна с другой. [c.32] Пленки-подкладки изготовляют любым из описанных ниже способов, используя для получения ровной поверхности тщательно отполированную поверхность стекла, металла, полистирола и т. д. или даже поверхность воды (для лаковой пленки). [c.32] Если пленка-подкладка бесструктурна, т. е. не дает собственной отчетливой дифракционной картины на электронограмме или очень тонка и поэтому в очень малой степени рассеивает электроны, то можно легко проводить прямой фазовый электронографический анализ карбидных, интерметаллидных и других частиц, помещенных на такой подкладке. Для успеха анализа необходимо лишь получить определенное, минимальное количество частиц. [c.32] Вернуться к основной статье