ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Анализ текстур из "Металловедение и термическая обработка стали Т1 " Текстурой называют преимущественную с иен-тировку кристаллитов в пространстве, возникающую при направленном внешнем воздействии или ориентирующем действии среды. [c.136] Составлено совместно с Э. И. Спектор. [c.136] В случае аксиальной текстуры, образующейся при одноосном воздействии (волочение, растяжение, сжатие), определенные кристаллографические направления [ииге] в кристаллитах ориентируются вдоль направления действия внешней силы ( ось текстуры ). При текстуре прокатки определенные кристаллографические плоскости (кк1) устанавливаются вдоль плоскости прокатного листа, а направления [мпгг)] вдоль направления прокатки (НП) текстура прокатки записывается как кк1) [uvw. В реальных условиях часто бывает не одна, а несколько преимущественных ориентировок кристаллитов в пространстве, т. е. возникает так называемая многокомпонентная текстура. [c.136] Текстуру обычно анализируют с помощью прямых и обратных полюсных фигур. Прямой полюсной фигурой (ППФ) называется стереографическая проекция нормалей к определенным плоскостям (кЫ) для всех кристаллитов данного материала. ППФ строят в координатах самого образца (рис. 5.32). Для текстуры прокатки плоскость проекции обычно устанавливается параллельно плоскости прокатного листа, а центр ППФ совпадает с направлением нормали к плоскости листа (НН). [c.136] Для опре,деления текстуры прокатки п ППФ ее поочередно накладывают на разные стандартные проекции монокристалла до совмещения областей сгущения нормалей с выходами анализируемых нормалей на стандартной проекции. Для гексагональных материалов требуются дополнительные расчеты [61, 62]. [c.137] Для анализа аксиальной текстуры достаточно иметь одну ОПФ, построенную для плоского образца, вырезанного перпендикулярно оси текстуры для анализа текстуры прокатки получают ОПФ для двух образцов, вырезанных перпендикулярно НН (параллельно плоскоств листа) и перпендикулярно НП. Анализ таких ОПФ по сравнению с анализом ППФ позволяет проводить приближенный, полуколичест-венный анализ компонент текстуры. Наиболее существенный недостаток анализа ОПФ связан с тем, что не удается проанализировать Рьы для достаточно большого числа полюсов (особенно для кристаллов с кубической решеткой). [c.137] Общий недостаток прямых и обратных полюсных фигур — их двухмерность. Действительные положения кристаллитов в пространстве трехмерной характеристики можно изучать с помощью трехмерных функций распределения ориентировок [63]. Эти функции рассчитывают на основании полных трех прямых полюсных фигур и строят в эйлеровых координатах (ф, Ф], Фз) связанных определенным способом с осями образца (например, с осями НН, НП и ПН прокатанного листа). Целесообразно использовать нейтронографические данные, поскольку этот метод дает информацию о текстуре в больших объемах образца. [c.138] Применение синхротронного рентгеновского полихроматического излучения и усовершенствованных методов дискриминации в измерениях интенсивности даст возможность одновременно получать несколько ППФ или достаточное количество исходных данных для непосредственного построения ОПФ. [c.138] Вернуться к основной статье