ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы где Д,, /лг, h, — соответственно интенсивности отраженного от образца излучения, источника излучения и собственно образца. С ростом температур трудности измерения R возрастают: собственное излучение /х становится столь большим, что для получения высоких интенсивностей /д,, требуется чрезвычайно мощный источник света. Прогрессивным в этом направлении является предложенный Д. Я. Светом [50] модуляционный рефлектометрический метод, существо которого заключается в предварительной модуляции падающего светового потока, что позволяет при использовании специальных методов усиления отделить отраженное излучение от собственного. [Выходные данные]