ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Кристаллографическая разориентация соседних участков по разные стороны границ фрагментов сильнодеформированных металлов весьма значительна. Уже простые наблюдения за положением пятен Лауэ на электронограммах коллимированных пучков и характер изменения темнопольного контраста при наклоне фольги позволяют заключить, что и азимутальные и горизонтальные составляющие углов разориептации обычно большие. Результаты расшифровки электронно-микроскопических изображений кристалла на начальных стадиях разворотов кристаллической решетки приведены на рис. 9. В работах [38,37,28] выполнен подобный анализ разориентировок фрагментов в полностью сформировавшихся структурах. [Выходные данные]