ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Аллен [619] недавно использовал этот метод с небольшими видоизменениями для определения толщины очень тонких окисных пленок на меди, подвергнутой электрохимическому полированию, а Дэвис, Эванс и Агар [416] таким же путем определяли толщину пленок РезОз на железе. [Выходные данные]