ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Таким образом, глубина распространения ямок травления от поверхности образца является функцией величины напряжений, количества циклов и скорости нагружения, а также зависит От места положения исследуемого участка. При этом полученные нами данные по послойному металлографическому анализу хорошо подтверждаются результатами измерений электрофизических параметров при послойном. сполировывании поверхностных слоев (см. рис. 138), а также литературными данными [586], согласно которым наблюдался пик внутреннего трения в Si при —135° С, который полностью исчезал после сполировыванияповерхностного слоя на глубину 100 мкм и вновь появлялся уже после небольшой деформации кручением. [Выходные данные]