ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Обратную полюсную фигуру (ОПФ) строят на основании измерений интегральной интенсивности отражений для разных плоскостей. (Ьк1) для текстурованного и эталонного образцов. С помощью дифрактометра в условиях фокусировки по Брэггу—Брентано полюсные плотности для разных плоскостей (Ркм), рассчитанные из соотношения отражений интенсивностей (НКБ) образца и эталона наносят около соответствующего полюса в стандартном треугольнике. Точки с одинаковым значейием Рпы соединяют уровнями. Индексы полюсов ОПФ, около которых Рны максимальна, указывают на наиболее вероятную кристаллографическую ориентировку нормали к плоскости образца. [Выходные данные]