ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Своеобразной разновидностью рефлексометрического метода является метод фотометра темного поля, успешно применяемый при визуальном контроле полированных стекол полупроводников и кристаллов на наличие микродефектов поверхности. [Выходные данные]