ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Конструктивные и схемные особенности другого подкласса атомно-физических анализаторов — аппаратов для рентгеноструктурного анализа — вытекают из назначения прибора — регистрации дифракционных картин взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. Основные узлы таких анализаторов — источник рентгеновского излучения, стабилизаторы напряжения, гониометры, вычислительные блоки. Для современных устройств характерными являются высокая производительность, возможность одновременного использования нескольких способов регистрации дифракционных картин (например, измерение с помощью гониометра, фотографическая регистрация, запись на самописец, цифропечать и т. п.), высокая стабильность питания рент: еновской трубки (до ±0,1 %),точная система юстировки, возможность автоматического определения интегральной интенсивности с заданного участка дифракционной картины, возможность ввода данных исследования в ЭВМ для дальнейшей обработки, дистанционное управление работой анализатора. [Выходные данные]