Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

[<< Стр.]    [Стр. >>]

сферических волн меньше: {1/А}. Структура диаграммы в этих секторах определяется в основном интерференцией краевых волн. Интенсивность поля вдоль эллипсов —нолос максимумов для бокового излучения — медленно меняется из-за влияния фактора фокусировки и диаграмм краевых волн. Наложение на поле краевых волн поля сферических дифракционных волн дает дополнительную осцилляцию. В зависимости от разностей фаз между краевыми волнами и сферическими их вклады или складываются или вычитаются (см. рис. 5.206), Эта интерференция вызывает попеременно увеличение и уменьшение ширины и интенсивности эллиптических полос бокового излучения (см. рис. 5.21).

[<< Стр.]    [Стр. >>]

ПОИСК



сферических волн меньше: {1/А}. Структура диаграммы в этих секторах определяется в основном интерференцией краевых волн. Интенсивность поля вдоль эллипсов —нолос максимумов для бокового излучения — медленно меняется из-за влияния фактора фокусировки и диаграмм краевых волн. Наложение на поле краевых волн поля сферических дифракционных волн дает дополнительную осцилляцию. В зависимости от разностей фаз между краевыми волнами и сферическими их вклады или складываются или вычитаются (см. рис. 5.206), Эта интерференция вызывает попеременно увеличение и уменьшение ширины и интенсивности эллиптических полос бокового излучения (см. рис. 5.21).

[Выходные данные]

© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте