ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Исследовались также образцы с поверхностным наклепом. Наклеп создавался обкаткой алмазной пирамидкой при нагрузках 10, 20 и 30 кГ. Изменение компоненты ui, упругой компоненты комплексной магнитной проницаемости, в зависимости от частоты показано на рисунке б. Из кривых следует, что, начиная примерно со 100 Гц, |ii для недеформировашюгс образца все больше отличается по величине от jij для деформированных образцов. При этом значения |.ii для образцов, деформированных с разной степенью обкатки, незначительно различаются, что можно объяснить небольшим различием величин остаточных напряжений в них. [Выходные данные]