ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы ния, приведенных на рис. 104. Как было показано в работах [26, 27], величина X, определяемая по таким кривым качания и равная ширине кривой у основания между точками, соответствующими приблизительно 0,5% интенсивности максимума, является интегральной характеристикой несовершенства кристалла и [Выходные данные]