ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы 1,5...3 нм. Анализ дислокационной структуры наноматериалов имеет особое значение в связи с тем, что источники размножения дислокаций не могут существовать в материалах с размером зерен менее Ш нм. Имеющиеся в литературе экспериментальные данные по данному вопросу являются довольно ограниченными и противоречивыми. Существование большого количества внутренних краевых дислокаций в кристаллитах размером 5...15 нм отмечалось при изучении структуры пленок Ti-B-N с помощью ПЭМ ВР [13]. При уменьщении наномасщтаба дислокации внутри нанокристаллитов, как правило, не наблюдаются, хотя на границах раздела часто присутствуют дислокации несоответствия (рис. 7.2 и 7.5, а также ссылки [8, 12]). [Выходные данные]