ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы При втором способе стандартизуют отдельно те параметры, из которых образуются поля допусков, т. е. ряды допусков в разных квали-тетах (см. табл. 5.2) и, независимо от допусков, ряды основных отклонений валов (см. табл. 5.3) и отверстий. Поля допусков получают, сочетая любые допуски и основные отклонения. Этот способ обеспечивает большое разнообразие полей допусков и соответственно посадок при сравнительно ограниченных комплектах допусков и основных отклонений. Способ является современным и применяется для образования посадок в системах ИСО и СЭВ. [Выходные данные]