ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Изменения в слоях металла толщиной менее 5 мкм не улавливаются рентгеноанализом. В этих случаях поверхностный слой исследуют методом структурной электронографии, основанным на дифракции электронов, позволяющим исследовать строение тончайшего поверхностного слоя различных материалов. Микротрещины в поверхностном слое определяют различными методами дефектоскопии (магнитной суспензии, магнитной индукции, ультразвуком, флюоресценции). [Выходные данные]