Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

[<< Стр.]    [Стр. >>]

Точность определения интенсивности • эталонного излучения зависит от погрешностей фотометрических измерений, и ошибок вычисления  вероятностей переходов. По-видимому, трудно добиться ошибки, меньшей 40—50%. В табл. 5.2 приведены те спектральные линии, ?которые могут быть использованы в качестве стандартных в вакуумной области спектра. Для этой пели пригодны, по-видимому, также и линии Ве П,МдИ,ВП1, и РУ, но возможность их применения никем не проверялась.

[<< Стр.]    [Стр. >>]

ПОИСК



Точность определения интенсивности • эталонного излучения зависит от погрешностей фотометрических измерений, и ошибок вычисления вероятностей переходов. По-видимому, трудно добиться ошибки, меньшей 40—50%. В табл. 5.2 приведены те спектральные линии, ?которые могут быть использованы в качестве стандартных в вакуумной области спектра. Для этой пели пригодны, по-видимому, также и линии Ве П,МдИ,ВП1, и РУ, но возможность их применения никем не проверялась.

[Выходные данные]

© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте