Тваймана—Грина

Схема, используемая в некоторых типах современных фурье-спектро-метров, показана на рис. 6.8. Она отличается от схемы на рис. 6.5 одной главной особенностью свет от источника сводится в пучок (коллимируется) зеркалом С до деления амплитуд делителем пучка В. Это вариант Тваймана-Грина для интерферометра Майкельсона. Коллими-рование позволяет сделать все поперечное сечение поля освещенности в инструменте соответствующим осевому (0 = 0) направлению на рис. 6.5. Поэтому кольцевые полосы отсутствуют и все поле имеет равномерную яркость. Возникающие при перемещении зфкала изменения интенсивности измеряются с помощью показанной на рисунке системы зеркала и детектора. Таким образом, для рассматриваемого нами гипотетического случая монохроматического света детектор снова должен регистрировать синусоидальный характер изменения интенсивности излучения. Если волновое число равно и слагаемые пучки имеют равные амплитуды Ai, то интенсивность в зависимости от [c.144]

Для контроля оптических элементов можно также применять голограммы, синтезированные на ЭВМ. Показанная на рис. 29 схема интерферометра Тваймана — Грина для контроля оптических поверхностей была усовершенствована введением голограммы, синтезированной на ЭВМ [42]. С помощью ЭВМ на фотопластинке можно [c.361]

Модифицированный метод Тваймана — Грина для измерения фазы интерференционной картины с точностью до Я/100 можно усовершенствовать, применяя самосканирующую фотодиодную матрицу, состоящую из 1024 элементов, и мини-ЭВМ [12 . Для обычных [c.362]

Рассмотрим значительно отклоняющуюся от сферы So волновую поверхность 2, в центре которой мы предполагаем определить амплитуду колебаний. Нанесем на этой волновой поверхности сетку кривых A= onst, что можно легко сделать, наблюдая интерференционные полосы, полученные методом Тваймана — Грина достаточно для этого воспользоваться сферическим зеркалом сравнения, совпадающим со сферой 5о. В качестве параметра интегрирования по волновой поверхности 2 возьмем площадь S, заключенную внутри какой-либо кривой A = onst, причем за элемент площади dS примем часть ее, заключенную между двумя кривыми из семейства А = onst, разность между которыми составляет dA (фиг. 82). Следовательно, можно считать, что А является при этих условиях функцией единственного параметра S, и в комплексной плоскости можно вычислить интеграл, который дает амплитуду колебания. Предполагая, что R равно целому числу длин волн, получаем h —kR) = l. Тогда для центра сферы сравнения (y = z =0) напишем, воспользовавшись, например, соот- [c.185]

Итак, можно поставить в соответствие интерферограмме Тваймана — Грина (см. фиг. 82) диаграмм у (фиг. 83) на комплексной плоскости (где можно не принимать во внимание множитель г, так как он несуществен). Когда деформация Д становится большой, то кривая, полученная в комплексной плоскости, представляет собой спираль с большим числом витков. Вычислим прежде всего кривизну этой кривой. Если [c.186]

Поставим прежде всего задачу приблизительной оценки качества изображения, даваемого прибором с большими аберрациями. Часто случается, что при изучении прибора на интерферометре Тваймана — Грина при соответствующем выборе сферы сравнения можно заметить, что значительная часть волновой поверхности имеет почти сферическую форму, а остальная часть зрачка занята сравнительно сжатыми полосами (см. фиг. 82). В результате соответствующая диаграмма (см. фиг. 83) будет состоять из почти прямолинейной части, представляющей центральную зону, и из сжатой опирали, сходящейся к асимптотической предельной точке. Часть зрачка, соответствующую сферической части волны, можно назвать зоной Релея , ограничивая ее условно кривой А = Х/4 длина дуги кривой равна s = EoS/KR, а длина результирую- [c.187]

Схему рассмотренного в настоящем параграфе трехпластинчатого интерферометра можно представить как развернутую в линию интерференционную систему Майкельсона или Тваймана— Грина, у которой несколько изменены значения коэффициентов отражения зеркал, обеспечивающих многократное прохождение светового луча [1871. [c.45]

Рис. 3. Интерферометр Майкельсона — Тваймана—Грина с фотоэлектрическим детектором.

Рис. 4. Сигнал интерференции для одночастотного излучения в зависимости от оптической разности хода = n L L2) для интерферометра Майкельсона—Тваймана— Грина (рис. 3).

На возможность нарушения этого требования было впервые указано Строуком и Фанкхаузером [64] в 1965 г. Предложенный ими метод тесно связан с голографической спектроскопией Фурье. При этом голограмма получается при спектрально некогерентном освещении с помощью двухлучевого интерферометра Майкельсона — Тваймана — Грина. Такая голограмма при восстановлении методом голографии Фурье воспроизводит спектр непосредственно в фокальной плоскости линзы без какого-либо математического преобразования спектрограммы, как это делается в обычной, неголографической спектроскопии Фурье. [c.175]

В экспериментах [64, 75] был использован интерферометр Майкельсона — Тваймана — Грина с компенсацией (рис. 41). Голограмма, на которой зарегистрирован спектр холодного дугового ртутного разряда, приведен на рис. 42. На рис. 43 дан спектр, восстановленный при освещении голограммы лазерным светом на длине волны 0,63 мкм (см. рис. 24). При регистрации голограммы была использована очень широкая диффузно освещенная апертура. Интерферометрический клин создавал угол между пучками интерферометра, соответствующий 30 полос/мм от белого ртутного света. Оптическая разность хода лучей в интерферометре была близка к нулю. Использовались фотопластинки Kodak 649F с высоким разрешением. Юстировочные эксперименты были проведены на фотопленке Polaroid P/N. Выполненные вначале опыты с импульсной лампой показали, что непрерывный спектр также образует интерференционную голограмму, по которой он может быть воспроизведен. [c.178]

Для прямого определения угла между поверхностями пластины удобно использовать одночастотный гелий — неоновый лазер, если его поместить в устройство, которое можно назвать обратным интерферометром Тваймана — Грина [2, 3]. Величину остаточного угла клина легко связать с расстоянием I между двумя полосами интерференционной картины, пока это расстояние меньше диаметра пластины и диаметра сколлимированного пучка света [c.25]

При измерениях с кадмиевым эталоном оборудование располагают по схеме фиг. 7.3. При таких измерениях используется интерферометр Тваймана—Грина, Сколлимированный свет кадмиевой лампы проходит через узкополосный фильтр с Я = 6438 А, устраняющий посторонний фон. Эта образцовая лампа чрезвычайно удобна для настройки системы в стационарном режиме. Она позволяет также проверять систему до начала работы лазера с модулированной добротностью. Интерферометр настраивают так, чтобы можно было получить интерференционные по [c.376]

Подобное устройство является основой многих видов интерферометров, как, например, двухлучевого интерференционного микроскопа Цейсса — Линника, интерферометра Тваймена — Грина и т. д. Конструкция этих интерферометров должна быть тщательно выполнена, она требует высокой жесткости и точной сборки. Дайсон [31] недавно улучшил микроскоп, использовав плоскопараллельную пластинку и посеребренную плосковыпук- [c.367]

Схема интерферометра Тваймана — Грина для проверки качества призмы Пг [c.159]

Интерферометр Тваймана — Грина используется для контроля качества различных компонент оптических приборов. Схема интерферометра для исследования качества призмы показана на рис. 109. [c.159]

Проверка качества линзы осуществляется с помощью интерферометра Тваймана — Грина по схеме, показанной на рис. 110., Поверхность зеркала Аг является сферической, отполированной с точностью до долей длины волны. Центр сферического зеркала находится в фокусе F исследуемой линзы X.. [c.160]

В интерферометре Тваймана — Грина (см. рис. ПО) собирающая линза L отсутствует, а отражение происходит непосредственно от выпуклого зеркала с радиусом кривизны. [c.205]

Тваймана — Грина интерферометр 159 [c.350]

Рис. 8.2. Оптическая схема интерферометра Тваймана-Грина с компенсатором в объектной ветви

Интерферометр Тваймана — Грина и другие аналогичные приборы. Если интерферометр Майкельсона освещается точечным источником 5 квазимонохроматического света, находящимся в фокусе хорошо скорректированной линзы а выходящий из интерферометра свет собирается второй такой же хорошей линзой то такой прибор становится эквивалентным интерферометру Физо, но в отличие от последнего здесь пути световых пучков полностью разделены (рис. 7.40). Пусть Wl— плоский волновой фронт пучка, отраженного от Мг, Ш г— соответствующий плоский волновой фронт пучка, отраженного от Мц, и — виртуальный плоский волповой фронт, распространяющийся от Ма, который должен был бы выйти из делителя пучка совпадающим и синфазным с 1 1. Оптическая разность хода между выходящими после делителя лучами, имеющими виртуальное пересечение в точке Р на равна [c.280]

Рис. 7.42. Интерференционные картины Тваймана — Грина, получающиеся с линзой я показывающие наличие первичных аберраций 130].

Принцип устройства Тваймана—Грина использован в интерферометре Кюстерса, предназначенном для измерения длнп концевых калибров [31] <рис. 7.43, а). Калибр G плотна прижимают к зеркалу Aij зеркало Mi распо- [c.282]

Практические применения интерферометров не ограничиваются областью спектрального анализа. Например, для контроля качества изготовления оптических элементов служит интерферометр Тваймана—Грина (рис. 6.11, а), собранный на базе той же схемы. В его измерительное плечо помещается проверяемый оптический элемент. В случае проверки призмы второе плечо просто разворачивают, оставляя в нем плоский отражатель. Для контроля линз или многолинзовых объективов зеркало делают сферическим. [c.109]

Рис. 6.11. Оптические схемы интерферометров Тваймана—Грина (а),

Тваймана—Грина интерферометр, 109 телескопическая оптическая система, 71 тело [c.333]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...