Мейкера метод полос

Максвелла уравнения 20, 25, 61 Мейкера метод полос 106, 107 Миллера правило 53, 98 Модовые скачки 198 Моноклинная система 29, 38 Мэнли — Роу соотношения 64, 65, 66 --- для преобразователей частоты вверх 158 [c.257]

Используются два способа изменения этой длины поворот плоскопараллельного кристалла и смещение клинообразного кристалла. Первый из них иногда назьшают методом полос Мейкера , второй — методом клина. [c.88]

Рис. 23. Блок-схема установки для измерения нелинейной восприимчивости методом полос Мейкера

Выше мы остановились лишь на основных технических приемах, связанных с измерением нелинейностей с помощью метода полос Мейкера, опустив для простоты некоторые подробности. Гораздо более обстоятельно и критически этот метод рассмотрен в работе Жерфаньо и Куртца [85], в которой делается оценка поправок к измеряемой величине, обсуловленных множественными отражениями от торцов образца, конечными размерами пучка, наличием у образца поглощения и оптической активности. Учет этих поправок, как показано в работе, позволяет повысить точность относительных измерений до 5%, что превышает точность определения абсолютных значений нелинейных коэффициентов в ADP. [c.107]

Метод полос Мейкера использовался некоторыми авторами для определения знака нелинейных коэффициентов [121, 168]. Для этой цели два кристалла устанавливались друг за другом на пути лазерного пучка так, чтобы можно было наблюдать интерференцию волн ВГ, генерируемых в каждом кристалле. Кристаллы были помещены в вакуумную камеру, которая медленно наполнялась известным газом, например двуокисью углерода. При изменении давления газа, заполняющего промежуток между кристаллами, разность фаз между основной волной и [c.107]

Описанные методы измерения Ха с помощью получения и исследования интерференционной картины ( полос Мейкера ) позволяют измерить все компоненты тензора. Однако уровень мощности сигаапа невысок, поэтому в качестве источников излучения используются мощные лазеры,, а для регастращш — чувствительные приборы. [c.90]

Чаще всего гиперполяризуемость у измеряют, используя процесс трехволнового смешивания [23, 48, 162]. Для измерения гиперполяризуемости используется комбинационное рассеяние в эталоне, который либо вводится в кювету с исследуемой жидкостью в виде тонкой пластинки перпендикулярно направлению оптического пути (кальцит, резонансная частота 1088 см" ), либо путем добавления в кювету эталонной жидкости (бензол, резонансная частота 992 см ). На образец направляется излучение двух перестраиваемых лазеров с частотами и. Благодаря четырехволновому процессу, зависящему от 7( 3. Wi, - сог Wi),в образце появляется излучение частоты = 2 i — сцг, интенсивность которого фиксируется приемником. Частоты oji и со варьируют так, чтобы частота С03 оставалась постоянной, а Ли = Wi — со2 проходила через резонансную частоту Ji эталона, определяется как нерезонансным членом, зависящим от 7(соз, oj, -0 2, b i), так и резонансным, мнимая часть которого определяется сечением комбинационного рассеяния. Поэтому интенсивность излучения частоты соз немонотонно зависит от Дсо. Сравнивая форму зтой зависимости, полученную для эталона, с формой зависимости для эталона и образца, можно вычислить 7(0 , jj, - Шг, ji). Формулы для расчета приведены, например, в [48, 162]. В прследнее время для измерения у все шире применяются наблюдения интенсивности сигнала третьей гармоники излучения [159, 160]. Метод основан на интерпретации немонотонной зависимости интенсивности излучения 3 j от толщины кюветы. Эти зависимости похожи на полосы Мейкера, однако их интерпретация несколько сложнее [159]. Вьпие перечисленные, а также некоторые [c.96]

Значения коэффициентов d,, были получены из анализа полос Мейкера, методика которого описана в [73]. Относительные знаки коэффициентов К№Оз были определены по методу Миллера [76]. [c.33]

Гораздо проще измерять относительную величину оптической нелинейности. В этом случае, во-первых, отпадает необходимость в абсолютном измерении мощностей взаимодействующих волн. Кроме того, такие измерения обычно не связаны с получением синхронного взаимодействия, и, следовательно, требования к качеству нелинейного кристалла существенно снижаются. Наконец, при относительных измерениях нет необходимости точно исследовать параметры основного излучения, поскольку то же самое излучение воздействует и на опорный образец. Метод измерений, о котором идет речь, был впервые использован Мейкером и соавт. [105] в 1962 г. в настоящее время он известен как техника полос Мейкера. Плоскопараллельная пластинка исследуемого кристалла ориентируется таким образом, чтобы измеряемый нелинейный коэффициент являлся основным в используемом взаимодействии. Например, для измерения коэффициента 36 = z3 y в кристалле KDP необходимо вырезать пластинку так, чтобы ось 2 кристалла лежала в плоскости ее входной грани, а нормаль к входной грани составляла угол 45° с осями хну. Тогда, если луч лазера, падающий нормально на входную грань пластинки, поляризован под углом 90° к оси z, компоненты поля и Еу равны. При этом генерируемая волна второй гармоники будет поляризована параллельно оси 2. Однако при, такой геометрии взаимодействие не будет синхронным и, следовательно, сигнал второй гармоники будет слабым. При повороте кристалла в плоскости, образованной падающим лучом и осью 2, мощность второй гармоники периодически меняется, поскольку при этом меняется эффективная длина взаимодействия и фазовая расстройка. Полученная зависимость мощности второй гармоники от угла поворота кристаллической пластинки представляет собой систему максимумов и минимумов и очень напоминает систему интерференционных полос, за что описанный метод и получил свое название. В действительности же появление таких полос обусловлено природой генерации второй гармоники при больших фазовых расстройках Ak. [c.106]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...