1— маска пропускания

Косвенное влияние частотной характеристики материала на разрешающую способность в плоскости изображения связано с уменьшением контраста и отношения сигнал/шум по мере их удаления от опорного источника. Действие модуляционной характеристики пленки оказывается эквивалентным наложению на объект маски пропускания, которая определяется этой характеристикой [c.90]

Маска с ф-цией пропускания т х,у), помещённая в фурье-плоскость, приводит к частотной характеристике [c.388]

В АРМ конструктора (графических рабочих станциях) используются растровые мониторы с цветными трубками. Типичные значения характеристик мониторов находятся в следующих пределах размер экрана по диагонали 17... 24 дюйма (фактически изображение занимает площадь на 5. .. 8 % меньше, чем указывается в паспортных данных). Разрешающая способность монитора, т. е. число различимых пикселей (отдельных точек, из которых состоит изображение), определяется шагом между отверстиями в маске, через которые проходит к экрану электронный луч в электронно-лучевой трубке. Этот шаг находится в пределах 0,21. .. 0,28 мм, что соответствует количеству пикселей изображения от 800 х 600 до 1920 х 1200 и более. Чем вьппе разрешающая способность, тем шире должна быть полоса пропускания электронных блоков видеосистемы при одинаковой частоте кадровой развертки. Полоса пропускания видеоусилителя находится в пределах ПО. .. 150 МГц, и потому частота кадровой развертки обычно снижается с 135 Гц для разрешения 640 х 480 до 60 Гц для разрешения 1600 х 1200. Отметим, что чем ниже частота кадровой развертки, а это есть частота регенерации изображения, тем заметнее мерцание экрана. Желательно, чтобы эта частота бьша не ниже 75 Гц. [c.45]

До сих пор размер отверстия мы считали неограниченным следовательно, не было нижнего предела размеров пятна а, которое можно было бы точно воспроизвести. Влияние ограниченного разрешения можно просто учесть, если предположить, что при получении голограммы была использована маска с амплитудным пропусканием [c.236]

Результат, аналогичный использованию масок с косинусоидальной зависимостью пропускания, можно получить, используя маски с более простой зависимостью пропускания от длины волны, например с участками полного пропускания и полного непропускания. Использование масок подобного типа составляет принцип адамар-спектроскопии. [c.453]

Процедура измерения спектрального состава излучения в адамар-спектроскопии состоит в следующем. По закону, определяемому строчками матрицы (матрицы Адамара), строятся фильтры-маски. Каждая маска состоит из прозрачных и непрозрачных полосок с пропусканием 1 и О соответственно (например, в матрице на рис. 7.2.3 для этого достаточно заменить —1 на 0). Если ширина каждой полоски соответствует разрешаемому интервалу 6Х, а измеряемый спектральный интервал ДЯ = Я2 — Х1, то в маске должно быть М=А%18К полос. Соответствующая матрица Адамара содержит М строк и М столбцов. Такие многоцелевые растры (маски-матрицы Адамара) устанавливаются вместо щели в спектрометре и могут циклически сменяться, что дает возможность накладывать на спектр последовательно М масок и измерять при каждой матрице суммарный лучистый поток на выходе спектрометра. В результате получим систему уравнений для определения интенсивности М спектральных компонентов Ji. Для наглядности рассмотрим эту процедуру для четырех спектральных компо- [c.454]

С пропусканием, когда образуются негатив и нерезкая позитивная маска . Степень нерезкости, а также градационные характеристики регулируются изменением расстояния между негативом и экраном. [c.97]

Рассмотренный голографический метод пол ения пространственных фильтров снимает проблему синтеза оптических масок в пространстве частот. Трудности же синтеза оптических масок в пространстве координат менее серьезны, поскольку требуемые переходные функции (импульсные отклики), как правило, имеют простую форму и необходимые маски с пропусканием к( ,Т]) несложно изготовить с помощью простых фотографических средств. [c.172]

Ф-ция т(х,р) = й(х, > )ехр1ф(х,> ), определяющая характер пространств, модуляции и связывающая комплексную амплитуду волны на входе и выходе транспаранта g-(j ,jn) = = m[x,y)f x,y), наз. ф-цией пропускания (или модуляц. характеристикой) транспаранта. Операция пространств, модуляции изображается с помощью блок-схемы, изображённой на рис. Для осуществления пространств, модуляции в оптике используют различного вида маски, пластинки, амплитудные и фазовые решётки. [c.387]

Другим распространенным методом является модуляция светового пучка некоторой структурой, имеющей функцию пропускания с четко выраженной периодичностью (например, растр или дифракционная решетка). Дискретность характеристики преобразования этого метода очевидна, причем входная величина (вибропере-мещение) квантуется по уровню. Сопряжением параллельных растров получают ком-очнациониые (муаровые или нониусные) полосы. В этом случае малому перемещению "ОДвижного растра соответствует значительное перемещение комбинационных по- ос. Разновидностью подобных преобразователей являются кодовые маски, позволяющие передавать информацию о линейном или угловом перемещении в параллель-1 ом я-разрядном цифровом коде, что дает возможность непосредственно сопрягать такие преобразователи с каналами цифровой обработки и регистрации. [c.125]

Еще более изящный способ использования излучения моды высокого порядка был преддожен внесшим большой вклад в теорию и практику одночастотных лазеров Ю.В. Троицким. Он состоит в замене полупрозрачного выходного зеркала на полностью отражающее с единственным полупрозрачным участком, имеющим намного больший коэффициент пропускания и приходящийся точно на одно из пятен [132]. Правда, при этом снижается конкурентоспособность именно той моды, которую мы пытаемся использовать меньшими потерями, по сравнению с ней, начинают обладать те моды, у которых на полупрозрачный участок приходится не максимум, а минимум интенсивности. Чтобы, несмотря на это, все же заставить лазер генерировать на избранной моде, приходится вставлять в резонатор маску, поглощающую или рассеивающую свет на участках сечения, соответствующих минимумам распределения ее интенсивности (вдоль пунктирных линий на рис. 1.8,1.9). Такая маска, почти не снижая добротности нужной моды, повышает потери всех остальных с ее помощью в принципе можно добиться одномодовой генерации и при значительном усилении. [c.216]

Один из новых и весьма привлекательных методов извлечеиия признаков опознаваемого объекта состоит в вычислении статисти- ческих моментов [228]. В оптической системе, реализующей этот метод рис. 5.12), исходное изображение f(x, у) проецируется на маску с пропусканием g x-, у) и результирующее произведение интегрируется по пространственным координатам. На выходе од-ноэлементного фотоприемника появляется сигнал, пропорциональный величине f x-, y)g x-, y)dxdy. Если пропускание маски имеет вид одночлена g x у) х у", то сигнал фотоприемника представляет собой один из геометрических моментов входного изображения. Использование голографической маски позволяет [c.276]

Известны две классические схемы оптических корреляторов сигналов —с временным и пространственным интегрированием. В корреляторе с пространственным интегрированием (рис. 5.22) принимаемый сигнал g t) поступает в АО-ячейку, расположенную во входной плоскости Pia, а опорный сигнал h x) в виде маски или второй АО-ячейки расположен в плоскости Pib-Изображение входной ячейки отображается на плоскость маски, и свет, прошедший сквозь маску, собирается линзой, в фокусе которой расположен фотоприемиик, воспринимающий суммарную интенсивность прошедшего света. Если рассматривать пропускание АО-ячейки в виде перемещающегося пространственного сигнала, то световое поле непосредственно за опорной маской будет равно произведению сдвинутых копий входного и опорного сигналов в различные моменты времени. Выходная линза выполняет интегрирование произведения сигналов, и, следовательно, выход1ЮЙ сигнал фотОприемника является разверткой во времени функции корре Яции сигналов g и h. Поскольку интегрирование в такой схеме производится по пространственной координате в п юскости Ри,, то система называется коррелятором с пространственным интегрированием [c.294]

Выражение (3.121) показывает, что влияние модуляционной характеристики пленки эквивалентно наложению на входной зрачок системы маски, ослабляющей амплитуду и сдвигающей фазу соответственно комплексному коэффициенту пропускания M(xlXz2—vo. У/Я г). [c.89]

Необходимы также плоскопараллельные пластины, плоские отражающие и полупрозрачные зеркала светоделительные кубики и управляемые светоделители разного рода призмы, в том числе поляризационные полуволновые и четвертьволновые фазовые пластинки, оптические амплитудные пространственные фильтры (маски) с различными законами изменения амплитудного пропускания фазовые пространственные фильтры с произвольными законами изменения фазы устройства мультипликации и вращения изображений иммерсионные устройства с большой апертурой и иммерсионные лентопротяжные устройства высококачественные расширители пучка с большой апертурой гибкие световоды, фоконы и другие оптические элементы и устройства. Необходимость работы в когерентном свете предъявляет к материалу оптических элементов и качеству их обработки повышенные требования. [c.223]

Этим двум методам присущи два основных недостатка. Во-первых, в выходном изображении имеет место конкуренция между яркостью и разрешением. Чтобы получить хорошее разрешение, маска должна иметь очень маленькие отверстия, а чтобы иметь хорошее пропускание, отверстия должны быть большие. Во-вторых, очень трудно получить N изображений с одинаковой яркостью. Эти проблемы голографического мультиплицирования изображений требуют своего решения. [c.663]

В то время как сопряженную волну устранить нельзя, искажения, обусловленные побочным членом, пропорциональным AifA Y, а также неравномерностью когерентного фона, могут быть либо исключены полностью, либо по крайней мере существенно уменьшены модификацией фотографического процесса. В случае малых предметов разность плотности почернений в двух соседних интерференционных максимумах незначительна, по крайней мере на большой части голограммы. Это позволяет размазать интерференционные полосы путем экспонирования слегка расфокусированного отпечатка-голограммы и проявления его до контраста Г=1. Если этот отпечаток, имеющий пропускание, обратно пропорциональное сумме (Ло + Л ) поместить в регистрирующую систему одновременно с позитивом в качестве маски и осветить фоновой волной Ua, то замещающая волна будет описываться выражением [c.225]

В традиционных способах решения таких задач используются обычные лазерные источники и последующее внерезонаторное управление структурой нучка (пропускание излучения через маски, управляемые дефлекторы и т. п.), как правило, сопряженное с энерго-потерями. Большие и очевидные трудности возникают, когда управ- Тяющий элемент нужно помещать в достаточно мощный нучок. [c.189]

Модельное представление большинства технологий формирования микрорельефа ДОЭ дано на рис. 4.3. Изменения приведенной к рабочему интервалу [0,2тгт) фазовой функции ДОЭ представляются изменениями пропускания маски (шаблона), генерируемой на одном из автоматизированных прецизионных стройств. При [c.240]

В [33] описано применение обычной схемы когерентно-оптической фильтрации для этой цели. В качестве р-фильтра использовался двумерный полутоновой амплитудный транспарант с линейно нарастающим от центра к периферии пропусканием, синтезированный аналоговым методом вращающейся маски. Исходное поперечное суммарное изображение фотографически уменьшалось и помещалось в специальную кювету с иммерсионной жидкостью. Несмотря на эти меры, качество восстановленной томограммы было недостаточным из-за наличия спекл-шума, характерного для когерентных систем оптической обработки информации. [c.182]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...