Аппаратная функция

Следовательно, можно считать, что спектральный прибор, выделив синусоидальные составляющие из исследуемого излучения, как бы провел экспериментальное разложение заданной функции в ряд Фурье. Математическая операция получения спектра функции E t) и физический эксперимент, заключающийся в разложении электромагнитной волны на составляющие, привели к одинаковым результатам и, по-видимому, близки по количеству получаемой информации об исследуемом излучении. Такое же сравнение математического и физического спектров можно провести и в более сложном случае, когда изучаемая функция не является суммой гармонических колебаний, хотя отличная от нуля ширина аппаратной функции усложняет интерпретацию эксперимента и приводит к дополнительным трудностям, которые здесь не рассмотрены. [c.69]

В 6. 7 рассмотрена принципиальная возможность разрешения изображений двух звезд в том случае, когда критерий Рэлея заведомо не соблюдается, но измерение суммарного контура и определение аппаратной функции могут быть проведены с малыми ошибками. Все эти рассуждения полностью применимы и к разрешению спектральным прибором двух близких по длине волны спектральных линий. [c.319]

Улучшение качества оптических изображений. Голо-графический метод исправления изображений путем исключения аппаратной функции также основан на принципе обратимости опорной и объектной волн. Для изготовления голографического пространственного фильтра в плоскость / (см. рис. 16) помещают транспарант изображения объекта, которое построено оптической системой (ее аппаратную функцию). Голограмму по-прежнему регистрируют в частотной плоскости 2 и после проявления помещают на прежнее место. Затем в плоскости / устанавливают транспарант, подлежащий исправлению, а пучок, служивший опорным при записи голографического фильтра, перекрывают. Вследствие фильтрации в плоскости 3 образуется исправленное изображение транспаранта. [c.53]

Действие. этой системы можно объяснить, рассматривая неискаженный транспарант как совокупность светящихся точек, а изображение, искаженное оптической системой и подлежащее исправлению, — как совокупность светящихся пятен, созданных наложением кружков рассеяния (аппаратных функций). этой оптической системы. [c.53]

Отдельные элементы инструментального контура какой-либо линии вносят свой вклад в формирование контуров других, в основном соседних, линий. Таким образом, в образовании каждого элемента реального контура линии в спектре принимают участие все монохроматические составляющие исходного излучения. В результате спектр на выходе прибора представляет собой свертку двух функций истинного распределения энергии в источнике и так называемой аппаратной функции прибора, описывающей инструментальный контур. [c.15]

В идеальном случае, когда потери на поглощение отсутствуют, t= —r и /макс= о- На рис. 27 приведено распределение интенсивности ///макс В функции Ф ДЛЯ различных значений г. С увеличением коэффициента отражения интерференционные кольца становятся более резкими. Выражение (2.47) представляет собой (с точностью до постоянного множителя) аппаратную функцию интерферометра Фабри—Перо. [c.78]

Контрастность. Контрастность интерферометра у определяется как отношение интенсивностей в максимуме и минимуме аппаратной функции. Из (2.47) легко получить [c.80]

Аппаратурные искажения спектрометра учитываются с помощью аппаратной функции А (V), которая задает некоторое распределение интенсивности в спектре, если на вход спектрометра падает идеально монохроматическое излучение. Если же в спектрометр попадает излучение с некоторым распределением интенсивности по спектру ф(м), то наблюдаемая форма контура спектральной линии такого излучения будет определяться интегралом (сверткой) вида [c.122]

Наблюдаемый контур возбуждающей линии /(V) также искажен за счет аппаратной функции прибора [c.123]

Для нахождения истинного контура линии комбинационного рассеяния фк(v) необходимо решить написанные выше интегральные уравнения. Анализ показывает, что для поставленной задачи не обязательно знать трудно определяемые истинные контуры аппаратной функции и возбуждающей линии. Достаточно измерить наблюдаемые контуры комбинационной и возбуждающей линий, чтобы по ним определить истинный контур линии комбинационного рассеяния. Например, в частном случае, если наблюдаемые контуры комбинационной и возбуждающей линий имеют дисперсионную форму [c.123]

Функция f(v—V ), учитывающая искажающее влияние прибора, называется аппаратной функцией. Ее можно считать неизменной в сравнительно узкой области спектра. [c.163]

Аппаратная функция спектральных приборов определяется многочисленными факторами. Если основную роль играют диф- [c.164]

Рис. 65. Аппаратные функции 1 — треугольная, /а — дифракционная, /з —гауссова. Формы полос поглощения >1 — дисперсионная, Да —гауссова

В данной задаче используется гауссова функция для аппроксимации аппаратной функции и дисперсионная — для истинного контура поглощения. Тогда из (3.114), (3.116) и (3.119) можно получить [c.165]

Предварительно оценивают получаемую щирину исследуемой линии и сравнивают ее с величиной спектральной щирины щели. Спектральную щирину щели находят теоретически, исходя из размеров геометрического изображения щели и дифракции на действующем отверстии прибора (см. задачу 1). Оценка спектральной щирины щели может быть также сделана по тонким линиям железа. В последнем случае будут учтены все факторы, в том числе качество изображения спектра в приборе и аппаратная функция фотослоя. [c.276]

Рассмотрим конкретный пример. Будем считать, что аппаратная функция прибора гауссовская [c.51]

Осн. характеристиками М., определяющими выбор параметров его оптич. системы, являются лучистый поток проходящий через выходную щель предел разрешения 6Я, т. е. найм, разность длин волн, ещё различимая в выходном излучении М., либо его разрешающая способность г, определяемая, как и для любого др. спектрального прибора, отношением Я/бЯ, а также относительное отверстие объектива коллиматора Ад, Разрешающая способность г, ширина выделяемого спектрального интервала бЯ и спектральное распределение энергии излучения, прошедшего через выходную щель, определяются аппаратной функцией М., к-рую можно представить как распределение потока лучистой энергии по ширине изобра.- [c.210]

В прецизионной С. твёрдых материалов и покрытий для правильной интерпретации результатов измерений в некогерентном излучении вводится представление о многомерной аппаратной функции измерений (АФИ) А(й, ф, х). Ширина АФИ по координатам К, ф, х соответствует спектральному (бЛ), угловому (бф) и пространственному (бх) интервалам, выделяемым в дан-пой схеме измерений. Каждое измеренное значение X и его погрешность АХ рассматриваются как результат операции свёртки многомерных ф-ций Х ), ф, х) А( ь, ф, х) в данных конкретных условиях, описываемых комбинацией параметров к, ф, х, бЛ, бф, бх (при известных поляризации и темп-ре) с соответствующими допусками по каждому из параметров. Функциональные зависимости X от параметров Я, ф, х измеряются так один из параметров сканируется, а [c.626]

Ранее мы видели, что распределение освещенности от тонкой линии и переход к частотно-контрастным характеристикам осуществлялись на основе свертки картины светораспределения на предмете и аппаратной функции — светораспределения от элемента предмета, создаваемого оптической системой. [c.177]

Для простоты и наглядности рассуждений будем считать, что разность между o)i и (02 (а также между со2 и м3) значительно превышает ширину аппаратной функции йм. Тогда измерение интенсивности света на одной частоте не приведет к искажению измерений на другой частоте и мы зарегистрируем три максимума. Пусть приемник света в исследуемом интервале частот малоселективен, а поглощение радиации в самом приборе неселективно. Тогда отношение квадратов амплитуд (или отношение площадей под тремя пиками на спектрограмме) будет равно отношению . Если преодолеть трудности с калибровкой прибора, всегда сопутствующие абсолютным измерениям , то сумма указанных площадей определит среднее значение исследуемой функции. [c.69]

Мы усматриваем аналогию с разложением излучения в спектр, которое проводилось для выявления истинной структуры спектральной линии, замаскированной уширением, создаваемым спектральным прибором, которое также называлось аппаратной функцией. Эта а11 алогия весьма глубокая, так как обе эти операции основаны на преобразовании Фурье, имеющем непосредственное отношение к данной проблеме (см. 6.6). [c.338]

При изучении фотографии уд шенной звезды аппаратной функцией в первом приближении является дифракционное пятно, размеры которого определяются диаметром объектива телескопа и длиной волны дифрагирующего света. Однако эта идеализированная картина существенно усложняется влиянием аберраций, полное устранение которых представляется практически невозможным. Поэтому аппаратная функция может быть определена только приближенно. Неизбежны также случайные и систематические ошибки при измерении освещенности суммарной картины. Наличие ошибок в измерении f(x — х) п Ф(х) ограничивает возможность восстановления функции объекта Дл )путем решения обратной задачи. [c.338]

Экспериментальная установка. Для измерений Ме по ширинам линий с линейным штарк-эффектом удобно использовать спектрограф с большой дисперсией, чтобы при получаемых уширениях можно было пренебречь аппаратными искажениями. Если ширина аппаратной функции не превышает /б от ширины линии, аппаратные искажения можно считать малыми. [c.274]

Здесь результат измерения у х) интерпретируется как искаженный высокочастотной помехой п х) полезный квазидетер-минированный сигнал g (x) прибора, на вход которого поступает истинный сигнал v x). А(х, у) — аппаратная функция прибора, 7 — параметр разрешения. При А х, у)- 8(х) (6(j ) — дельта-функция), следовательно, y x)- v x). [c.49]

Идеальная интерферограмма предполагается бесконечно протяжённой, при этом разрешающая сила Ф.-с. была бы бесконечно велика. Целый ряд факторов, однако, ограничивает достижимое разрешение конечные пределы ме-ханич. перемещения зеркала Л/г, возможности цифровой регистрации и обработки интерферограммы, неидеаль-ность оптич. системы и др. Как правило, форма и ширина аппаратной функции Ф.-с. определяются пределом измеие- [c.389]

С этой точки зрения интересны работы Строука по улучшению изображений электронных микроскопов с помощью голографических фильтров [163]. Применение оптических методов обработки информации для обработки спектрограмм, рентгенограмм, изображений с электроинЫ1х микроскопов и т. п., для устранении влияния аппаратных функций спектральных приборов, рентгеновских установок, электронных микроскопов на качество формируемых ими изображений может явитьси эффективным средством существенного увеличении разрешающей способности этих приборов (до нескольких раз) без каких-либо конструктивных усовершенствований самих приборов. [c.263]

Единственной из известных нам работ, в которой данным методом решается задача восстановления сложного СКСЛ, состоящего из нескольких компонентов, является статья [9]. В этой статье определение относительных интенсивностей и положения компонентов рассмотрено для двухкомпонентной структуры. Линии предполагались монохроматическими, а в качестве АКИУ была взята аппаратная функция идеального ИФП. Эксперимент проводился машинный. [c.106]

Основная случайная ошибка предлагаемого определения АКИУ обусловлена ошибкой измерения рельефа поверхности зеркал ИФП. Суммарная случайная ошибка изложенного метода определения аппаратной функции ИФП составляла 0,5%. [c.118]

Смотреть страницы где упоминается термин Аппаратная функция : [c.155] [c.69] [c.314] [c.318] [c.338] [c.339] [c.459] [c.164] [c.164] [c.165] [c.166] [c.607] [c.659] [c.175] [c.606] [c.611] [c.622] [c.623] [c.6] [c.46] [c.263] [c.116] [c.173]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...