Вульфа —Бреггов уравнение

В основе рентгенографического анализа лежит уравнение Вульфа-Брегга, связывающее угол 0 падения или отражения (они равны) на атомную плоскость рентгеновского луча с его длиной волны X и величиной межплоскостного расстояния d [c.158]

Из уравнения Вульфа-Брегга видно, что при съемке неподвижного монокристалла с использованием параллельного пучка монохроматического излучения условия получения хотя бы одного дифракционного рефлекса могут не выполняться. Поэтому целью методов рентгенографического анализа является получение дифракционной картины путем изменения ориентировки кристалла или падающего пучка (т.е. варьируя 0) или с помощью сплошного спектра (т.е. варьируя 1). Наибольшее практическое применение получил метод Дебая-Шерера (метод порошка). В этом методе осуществляется съемка поликристал-лического образца (или порошка) в параллельном пучке монохроматического излучения. [c.159]

В отличие от этого у-железо (аустенит) образует кристаллическую решетку из элементарных кубов с центрированными гранями (см. рис. 32, а, б). Соответственно решетка называется гра-нецентрированной кубической (г. ц. к.). В нормальном состоянии радиус иона железа в кристаллической решетке может быть принят равным 1,3-10 см. Постоянная кристаллической решетки а, представляющая собой длину ребра элементарного куба, равна 2,8-10 см для а-железа (феррит) и 3,5-10 слг —для у-железа (аустенит). Эти значения, равные расстояниям между рядами атомов в идеальной кристаллической решетке железа, определены по уравнению Вульфа-Брегга из данных о дифракции рентгеновских лучей. [c.40]

Параметры кристаллической решетки с и а определяют-согласно уравнению Вульфа — Брегга, а размеры кристаллитов-(диаметр и высоту)—по уравнению Селякрва — Щеррера, полагая (согласно 2361), что они имеют форму цилиндров, высота которых меньше диаметра. Рентгеноструктурные характеристики измеряют на дифрактометрах типа УРС-50ИМ или ДРОН,. снабженных сцинтилляционными счетчиками. Съемку произво- [c.99]

Рентгеновский анализ служит для изучения кристаллической структуры металлов. Этот метод основан на дифракции рентгеновских лучей рядами атомов кристаллической решетки. Рентгеновские лучи представляют собой электромагиитиые волны с длиной волны 0,0005—0,2 нм. Благодаря малой длине волны эти лучи возбуждают электроны атомов или ионов, находящихся в узлах кристаллической решетки. Поэтому атомы пионы сами становятся источниками электромагнитных колебаний. Лучи, рассеянные отдельными атомами или ионами, взаимодействуют (интерферируют) между собой. Вследствие упорядоченного расположения атомов в кристалле интерференция рассеянного излучения происходит таким образом, что в одних направлениях колебания усиливаются, в других ослабляются и гасятся. Возникающая интерференционная картина может быть истолкована как отражение лучей от отдельных кристаллографических плоскостей, подчиняющееся уравнению Вульфа—Брегга. [c.50]

Метод Лауэ заключается в том, что на монокристал-лическпй образец направляют пучок полихроматического, т. е. имеюшего разные длины волн излучения. Это излучение называют белым. На плоском экране, помещенном за образцом, возникает система дифракционных пятен, каждое из которых является результатом отражения луча от определенной плоскости. Белое излучение необходимо для того, чтобы каждая плоскость кристалла могла встретить свой луч, удовлетворяющий уравнению Вульфа—Брегга. По взаимному расположению пятен определяют характер кристаллической решетки, ориентацию кристалла в пространстве по отношению к падающему лучу. [c.52]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...