Контроль ксерорадиографический

Ксерорадиографический метод. Для повышения производительности контроля и в целях экономии серебра создан метод получения изображения на фотополупроводниковых слоях из аморфного селена. Способ получения изображений на поверхности, электрические свойства которой изменяются под действием рентгеновского и -из-лучения, называется ксерорадиогра-фией, или электр орадиографией. Технология просвечивания паяных соединений этим методом аналогична технологии радиографического контроля. Ксерорадиографический метод контроля имеет преимущество в отношении производительности и стоимости, однако ксерорадиографические пластины не могут изгибаться, поэтому этим методом возможен контроль швов только на плоской поверхности изделий. [c.363]

Рис. 5.47. Принципиальная схема ксерорадиографического контроля

Электрорадиографический (ксерорадиографический) процесс контроля ясен из рис. 5.47. Для получения элект-рорадиографического изображения необходимо на всех этапах его получения выполнять ряд требований, вытекающих из специфики метода. Величина поверхностного заряда должна быть пропорциональна плотности исследуемого изделия и иметь высокую контрастность. Это достигается подбором величины поверхностного заряда при электризации пластины. Высокая контрастность снимка обеспечивается за счет краевого эффекта, выражающегося в резком переходе оптических плотностей почернений на их границе. Регулирование контрастности и величины кра- [c.614]

Ксерорадиографический контроль не находит широкого распространения из-за отсутствия гибких пластин, хрупкости селенового слоя, наличия высокого напряжения (8... 15 кВ) и ряда других факторов. Однако его преимущества — высокая производительность, возможность получения результатов сразу же через несколько минут после просвечивания, дешевые применяемые материалы и отсутствие необходимости в воде, химикатах, фотолаборатории, делают этот метод перспективным для успешного применения при контроле сварных соединений. [c.127]

Между заряженными частицами красителя и зарядами на поверхности полупроводникового слоя действуют кулоновские силы притяжения или отталкивания в зависимости от их знаков, поэтому количество осажденного на определенном участке ксерографической пластины проявителя связано с величиной остаточного потенциала на этом участке. Таким образом, на ксерорадиографической пластине получают видимое изображение теневой проекции объекта, которое либо можно наблюдать непосредственно, либо переносить на бумагу и хранить в качестве документа контроля. [c.135]

Переносные аппараты ПКР-1 и ПКР-20 имеют три узла зарядки, проявления и закрепления. Масса аппарата ПКР-1 не более 20 кг, габаритные размеры 220x240x360 мм, масса аппарата ПКР-26 не более 30 кг, габаритные размеры 400 Х 400 Х ХбОО мм. Время получения ксерорадиографического снимка около 2—3 мин. Эти аппараты предназначены для контроля в лабораторных, цеховых, полевых и монтажных условиях. [c.139]

Некоторые дополнительные ограничения связаны с тем, что ксерорадиографические пластины не могут изгибаться. Поэтому, например, при контроле сварных швов цилиндрических объектов сварки кольцевое соединение не удается расположить в непосредственной близости к пластине, а это ухудшает чувствительность к дефектам. [c.139]

При контроле стали толщиной 3—27 мм и титана толщиной 1—15 мм достигается примерно такая же чувствительность, как на пленках РТ-1 и РТ-2. Просвечивание объектов на ксерорадиографические пластины излучением радиоизотопных источников и бетатронов показало, что чувствительность к дефектам в этих случаях падает, а также ухудшается качество снимков. В какой-то степени эти недостатки компенсируются у пластины СЭРП-100П2 благодаря применению в их конструкции заднего усиливающего оловянного экрана (оловянный слой между подложкой и полупроводниковым слоем). [c.141]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...