ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Принятые обозначения из "Нормальные условия измерений в машиностроении " Метрологический предел точности. Государственный эталон единицы длины [8] состоит из газоразрядной лампы с криптоном-86—источником первичного эталонного излучения, эталонного интерферометра, эталонного спектроинтерферометра и прецизионной аппаратуры для измерения температуры. Исследования показали, что наиболее точную штриховую меру на эта-лонной установке можно измерить с погрешностью 0,02. .. 0,03 мкм. При этом необходимо знать ее температуру с погрешностью 0,002. .. 0,003 °С и обеспечить постоянство температуры в процессе измерения в пределах сотых долей градуса. [c.6] Погрешность воспроизведения угла на Государственном первичном эталоне оценивается средним квадратическим отклонением (СКО) в 0,01 при аттестации 24- и 36-гранных кварцевых призм и вариации температуры 0,03 С в диапазоне 20 0,1°С. [c.6] Технологический предел точности. Согласно А. П. Соколовскому [62] технологическая точность определяется соответствием реальной и заданной поверхностей деталей в четырех аспектах точностью формы, т. е. степенью соответствия отдельных участков детали тем геометрическим образам, с которыми они отождествляются, точностью размеров, точностью взаимного расположения поверхностей, их шероховатостью. Следует отметить, что для функциональной взаимозаменяемости важно в ряде случаев и соответствие комплекса физико-механических свойств реальной и заданной поверхностей. [c.7] Реальные поверхности имеют макро- и микроотклонения формы. Минимальная высота шероховатости поверхности, получаемая вибрационным шлифованием и ионным полированием по оптической технологии, находится в пределах 1. .. 10 нм. Минимум достигается на особо однородных материалах пара-фазном стекле, кварцевом стекле, монокристалле кремния и т. п. [c.7] Минимальные допускаемые отклонения от плоскопараллель-ности на концевых мерах длины первого разряда 0,1 мкм, плоскостности контрольного бруска 0,06 мкм. Минимальные практически полученные отклонения от плоскостности на образцах 050 мм из плавленого кварца и монокристаллического кремния при полировании—(0,01. .. 0,1) Я/2, где = 0,6 мкм — длина волны света. [c.7] Технологическое воспроизведение прямой как места пересечения двух плоскостей, а тем более линий пересечения поверхностей с пространственной кривизной дает отклонение более 0,2 мкм. Минимальные отклонения от круглости гладких калибров-пробок 0,0005. .. 0,00005 мм (ГОСТ 2015—69), допуски некруглости для роликов по ГОСТ 6870—72 не менее 0,001 мм. Минимальные допускаемые отклонения от круглости установочных и образцовых колец — 0,001, плунжерных пар — 0,0001, шариков (ГОСТ 3722—60)— 0,0001 мм. Минимальные отклонения эвольвенты профиля эвольвентных кулаков до 0,0005, а измерительных колес — 0,001 мм. Наконец, минимальные допуски для классов точнее первого квалитета по СТ СЭВ 144—75 составляют десятые доли микрометра (0,2 мкм для диапазона 1. .. 3 мм и класса 02). [c.7] Технологический предел точности повышается по мере развития технологии обработки, увеличения точности соответствующего финишного оборудования, улучшения однородности и стабильности физико-механических свойств конструкционных материалов, стабилизации внешних влияющих факторов. Известно, что физический предел точности воспроизведения размеров твердого тела превышает 10 [8 79], а гипотетическая элементарная длина оценивается физиками менее 10 ° см. Экономическая точность деталей, как правило, значительно ниже достижимых пределов и соответствует квалитетам I и 2 в прези-ционном машиностроении, 3. .. 8 — в производстве редукторов, станков нормальной точности и т. п., 8. .. 12 — в горнодобывающей и сельскохозяйственной технике. [c.8] Технологическое обрабатывающее оборудование является источником тепловыделений, вибраций, магнитных и электрических полей и других факторов, снижающих как точность изготовления, особенно на финишных операциях, так и точность измерений. Процессы обработки обычно сопровождаются изменением состояния окружающей среды в рабочем пространстве средств контроля, установленных на технологическом оборудовании и в непосредственной близости от него. Так, при шлифовании происходит нагрев обрабатываемой поверхности детали до десятков и сотен градусов при разности температур внутри нее до десятков градусов, нагрев узлов станка до 27. .. 30 °С, а жидкости в гидросистеме до 50 °С. При использовании магнитных базирующих плит их температура повышается до 30 °С и более [28]. В зоне обработки наблюдаются повышенное содержание паров и брызг смазочно-охлаждающей жидкости (СОЖ), углекислого газа, твердых частиц абразивной пыли, значительная скорость перемещения воздуха, а также действие высокочастотных вынуждающих вибраций. [c.8] Сопоставление приведенных данных со стандартными требованиями (ГОСТ 8.050—73) к нормальным условиям измерений. [c.8] Дифференциальная количественная оценка парциальной погрешности степени влияния весьма затруднительна по ряду причин. Во-первых, большинство влияющих факторов являются сложными неоднородными и нестационарными физическими полями. Во-вторых, действие влияющих величин на средство измерений выражается сложными тензорами влияния с неопределенными коэффициентами и граничными условиями. В-третьих, в реальных условиях на средство измерения воздействует некоторый комплекс частично взаимнокоррелированных влияющих величин. В-четвертых, функции влияния могут быть многомерными и неоднозначными. [c.9] В теории измерительных устройств и метрологии погрешности разделяются по форме выражения на абсолютные, относительные, приведенные [11], по связи с измеряемой величиной на аддитивные, мультипликативные, степенные, периодические и т. п., по степени определенности на систематические и случайные, по причинам появления на методические и инструментальные или аппаратурные (выделяют иногда также субъективные или личные погрешности), по связи с временными факторами на статические, динамические, смещения настройки (девиация). Выделяются основные погрешности средств измерений, определяемые в нормальных условиях, и дополнительные погрешности от выхода влияющих величин за нормальную область значений. [c.10] Несмотря на то, что эти понятия стандартизованы, по ряду из них нет четких определений, обеспечивающих однозначное понимание и нормирование. В первую очередь это относится к термину инструментальная (аппаратурная) погрешность . [c.10] Согласно ГОСТ 16263—70, инструментальная погрешность является составляющей погрешности измерения, зависящей от погрешностей применяемых средств измерений. [c.10] Однако здесь нет прямого указания относительно учета действия условий измерений на средства их выполнения при оценке инструментальной (аппаратурной) погрешности. [c.10] В других публикациях, как более ранних, так и последнего периода находим развернутые, но неоднозначные трактовки инструментальной погрешности. [c.10] Однако и в этой работе, использующей понятие нормальные условия измерений , не дается необходимых определений или критериев их выбора. Таким образом, необходимо уточнить понятия инструментальная (аппаратурная), основная и дополнительная погрешность , а также термин нормальные условия измерений . [c.11] Отсутствие общего определения для термина нормальные условия не только выявляется при рассмотрении нормативной документации (ГОСТ 16263—70), но имеются и работы по точности измерений, в которых авторы стараются доказать невозможность или нецелесообразность установления единых нормативов в данном аспекте. [c.11] Айн Дсх + тех +(1) где Лсх — погрешность схемы прибора Лтех — погрешность ее реализации Ау — погрешность от действия влияющих величин. [c.13] Инструментальную (аппаратурную) погрешность измерений не следует смешивать с расчетной погрешностью схемы средства измерений, в которой не учитывается действие условий измерений, Инструментальная погрешность должна определяться не с помощью образцовых мер и приборов, а по результатам измерений и разбраковки реальных объектов в реальных условиях при компенсации погрешностей метода и части субъективных погрешностей оператора, не проявляющихся при оценке основной погрешности средства измерений. [c.13] С понятием дополнительной погрешности связан термин функция (коэффициент) влияния — метрологическая характеристика средства измерений, отражающая зависимость погрешности или другой метрологической характеристики средства измерений от изменений влияющей величины. [c.14] Вернуться к основной статье