ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Классификация методов из "Радиоизотопная дефектоскопия " Для проведения радиоизотопной дефектоскопии необходимы источник ионизирующего излучения, контролируемое изделие, детектор, регистрирующий дефектоскопическую информацию (рис. 1). [c.4] М изменяет интенсивность и энергию выходящего пучка излучения на /И и который содержит дефектоскопическую информацию о структуре контролируемого изделия. Методы радиоизотопной дефектоскопии радиографический, радиометрический, радиоскопический—различаются способами детектирования получаемой информации. Изделия просвечивают с использованием радиоизотопных источников излучений тормозного, у-излучения, нейтронов и т. п. [c.4] В зависимости от используемого излучения применяются несколько методов радиографии гаммаграфия, нейтронная радцография и радиография с использованием тормозного (рентгеновского) излучения. Каждый метод имеет свою сферу использования, дополняя один другой. Гаммаграфия используется преимущественно при контроле качества изделий, располон енных в труднодоступных местах, в полевых и монтажных условиях, а тормозное излучение радиоактивных изотопов—при радиографии тонкостенных объектов. Нейтронная радиография — единственный метод, обеспечивающий контроль качества тяжелых металлов, водородсодержащих материалов, а также радиоактивных изделий. [c.5] Применяя эти методы, можно просвечивать стальные изделия толщиной до 200 мм, обеспечивая при этом 1—2%-ную чувствительность к выявлению дефектов. [c.5] Радиометрическая дефектоскопия — метод, с помощью которого получают информацию о внутреннем состоянии контролируемого изделия, просвечиваемого ионизирующим излучением, в виде электрических сигналов. Этот метод позволяет автоматизировать контроль и осуществлять автоматическую обратную связь от контроля к технологическому процессу изготовления изделия. Достоинство метода — проведение непрерывного высокопроизводительного контроля качества изделия, обусловленное высоким быстродействием применяемой аппаратуры. При этом чувствительность метода не уступает радиографии. Практически широкое применение в радиометрической дефектоскопии нашли сцинтилляционные кристаллы. [c.5] Выявляемость дефектов и производительность труда при контроле качества изделий, просвечиваемых ионизирующим излучением, определяются суммарным воздействием параметров источника, детектора и контролируемого изделия (рис. 2) [1]. [c.6] Влияние энергии и мощности экспозиционной дозы (МЭД) излучения на основные параметры радиоизотопной дефектоскопии рассмотрены в 3. [c.7] МИ энергией и линейным коэффициентом ослабления j.1 эф. Параметры эф и определяют, исходя из аналогичного ослабления в поглотителе обоих видов излучения. [c.8] Дозовый фактор накопления В характеризует степень рассеяния тормозного и Y-излучений в контролируемом изделии,, при этом вторичные электроны и кванты, образованные в процессе фотоэлектрического взаимодействия (фотоэффекта) и комптоновского рассеяния, в значительной степени отклоняются от направления первичного пучка излучения, что существенно ухудшает вы-являемость дефектов. [c.9] Значения В для моноэнергетического излучения в настоящее время хорошо известны (табл. 2), а для немоноэиергети-ческого излучения определяются экспериментально. При этом выполняют два измерения по схеме, приведенной на рис. 5, одно с коллиматорами для измерения М , другие без коллиматоров— для измерения (Мг,+Мр), где Л1ризлучение, рассеянное в изделии. По полученным экспериментальным данным вычисляют значения В эф = (Л1п- -Л1р)/М . [c.9] При использовании в цехах защитных камер без дополнительных потолков обратно рассеянное излучение может создать фон на смежных участках. [c.11] Мощность экспозиционной дозы этого фона может превышать предельно допустимые значения. [c.11] Нерезкость изображения U (мм) характеризуется размытием краев изображения на снимке или экране. Величина не-резкости при просвечивании изделий определяется воздействием следующих факторов геометрической нерезкостью Ur, возникающей из-за неточечности применяемого источника излучения внутренней нерезкостью детекторов Ub, оире-Uv, вызываемой рассеянием ионизирующего излучения не деляемой рассеянием ионизирующего излучения в материале детектора и зависящей от его энергии нерезкостью рассеяния только в материале детектора, но и в самом контролируемом изделии нерезкостью смещения U , вызываемой взаимными перемещениями источника излучения, изделия и детектора во время просвечивания. [c.11] Эффективность регистрации Q детектора (спектральная чувствительность) определяет его способность реагировать, на воздействие ионизирующего излучения в определенном диапазоне энергии и МЭД излучения. [c.12] В качестве фотометрических единиц, применяемых ири радиационной интроскопии и радиографии, используются основные единицы по ГОСТ 7932—56 единица силы света — кан-дела (кд) единица яркости — кд/м (нит), единица освещенности— люкс (лк), единица светового потока — люмен (лм). [c.12] В качестве единиц измерения ионизирующего излучения применяются системные и внесистемные единицы (табл. 3). [c.12] Активность изотопа А определяется числом атомов радиоактивного вещества, распадающихся в единицу времени, т. е. скоростью распада данного изотопа. [c.12] Вернуться к основной статье