ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Определение оптических постоянных вещества по параметрам отраженного света из "Отражение света " Из всего предыдущего видно, что в очень большом числе случаев оптические свойства вещества достаточно полно описываются феноменологическими параметрами га и X и что значение этих параметров позволяет выяснить многие детали микроструктуры вещества ). Лишь в некоторых случаях число параметров приходится увеличивать (например, щ, п ) и лишь в небольшом числе особых, специально рассмотренных выше вопросов эти параметры неприменимы. Таким образом, практически задача в широком круге проблем сводится к определению спектров га и X по измерениям спектра отражения Я к). [c.246] Некоторые аспекты данного вопроса рассмотрены в монографиях [014, 020, 024], а также в гл. 1 [26, 28] и в работах [1—3]. [c.246] в частности, очень важно, когда необходимо учитывать влияние внутреннего поля при переходе от х( о) к коэффициенту Эйиштейиа В (а). [c.246] Помимо того, что они дают большее количество информации, измерения по отражению являются единственно возможными для сильно поглощающих сред, так как необходимые для измерений поглощения толщины оказываются слишком малыми как с точки зрения практических возможностей изготовления образцов, так и с точки зрения несходства их структуры со структурой массивного вещества. При измерении жидкостей сказываются трудности измерения толщины слоя и адсорбция на окошках. [c.247] Поэтому для металлов, сильно поглощающих молекулярных кристаллов и красителей методы на Просвет почти неприменимы, а для жидкостей часто неудобны. [c.247] Кроме того, в тонких слоях возникают интерференционные явления, усложняющие (см. гл. 4) теоретические расчеты и увеличивающие ошибки эксперимента. [c.247] Измерения коэффициента отражения Яест (для естественного света) при нормальном падении из двух разных внешних сред ( сред Ь ). Сюда относится, например, метод Кравца [4]. Он заключается в нанесении исследуемого вещества на две различные прозрачные подложки. Для кристаллов и массивных образцов методика усложняется и становится неудобной, так как на образец необходимо наносить два различных прозрачных покрытия или применять две иммерсии. Для жидких сред, красителей и им подобных этот метод удобен и применяется [5, 6]. [c.247] Одновременные измерения на отражение и на просвет, дающие соответственно еот и х. В ряде случаев их трудно технически проводить, ибо отчетливое селективное отражение начинается при таких значениях X, когда измерения на просвет уже сложны (см. выше). Однако для малоселективного отражения методика все же применима. [c.248] Подобных комбинаций непосредственно измеряемых параметров можно предложить (и предлагается по сей день) очень много. Поскольку связь Р п, и, ф Н, а) весьма сложна и немонотонна, однозначность определения п и % по и точность измерений сильно зависят от значений параметров. [c.249] Сравнительный анализ точности этих методов и областей их применимости производился в ряде цитированных работ и многими другими авторами [22—33]. [c.249] На рис. 81 и 82 приведен результат расчетов [32] и др. для различных методов, а на рис. 83 — оформленные несколько иначе данные [33] для способа В, 2). На рис. 84 и 85 даны номограммы для R и Яц. Как видно, точность результатов при данной точности экспериментальных измерений и для данных значений п и х существенно различна в разных методах и зависит от выбранных значений ф. [c.249] Из этих расчетов и всех обсуждений видно, что оптимального универсального метода измерения пихт числа указанных выбрать нельзя, и методика должна меняться в зависимости от значений этих величин. Наиболее широко, видимо, применимы метод Битти — Кона [метод В, 8)] с указанными дополнениями, методы эллипсометрии, а также метод В, 2) с измерением при трех ф ). [c.249] В соответствии с методами разнообразны и оптические схемы измерений. Многие схемы описаны в цити- рованной литературе обзор ряда схем дан, например, в обзоре [34] (см. ниже 35). В последнее время для измерений отражения, как и для других оптических измерений, применяются методы фурье-спектрометрии (применительно к отражению см. [35, 36]). Они сложнее технически, но существенно повышают объем получаемой информации, давая сведения не только об амплитудах, но и о фазах. [c.249] Следует обратить внимание, что точность измерений п и X различна, и в разных диапазонах соотношение точностей также различно. [c.249] В работе [41], для некоторых других- в работах [38, 42—45]. [c.258] Кроме показанных на рис. 19, 22—24, 84, 85, номограммы предлагались также в работе [13]. [c.259] Вернуться к основной статье