ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Установки и методы исследования тонкой структуры линии рассеянного света из "Молекулярное рассеяние света " Изменение частоты при релеевском рассеянии света лежит в пределах 0,05—3 см , и поэтому изучение этого явления требует применения спектральных приборов высокой разрешающей силы. [c.181] СНИМОК В течение подходягдего промежутка времени. Под подходящим промежутком времени понимается такая экспозиция, в течение которой возможное изменение давления и температуры не испортит интерференционной картины (см. Приложение II). [c.182] В уже выполненных экспериментальных работах применялись все интерференционные спектроскопы, которые вообще применяются в лабораторной практике. Действительно, в первых работах Ландсберга и Мандельштама [13П использовалась пластинка Люмера — Герке, в первой работе Гросса [27, 28], а затем в работах Рамма [235], Вируса [236] — эталон Майкельсона. В исследованиях Рамана и его сотрудников применялись пластинка Люмера — Герке и эталон Фабри — Перо, а в последующих работах [53, 257, 479] — эталон Фабри — Перо. [c.182] Разнообразие спектроскопов, использованных при изучении тонкой структуры, по-видимому, объясняется тем, что в первоначальной стадии исследований не было выбора и каждый использовал тот спектроскоп, которым он располагал, а не тот, который он считал наиболее подходящим. [c.182] Сопоставление различных спектроскопов и анализ их работы [237, 238], а также практика их использования показывают, что в настоящее время наиболее подходящим для исследования тонкой структуры нужно признать эталон Фабри — Перо, прежде всего из-за большой светосилы, сравнительно простой и хорошо учитываемой аппаратной функции и большой легко изменяемой разрешающей силы. Основные характеристики эталона Фабри — Перо даны в Приложении II. [c.182] В качестве примера на рис. IV приведены репродукции снимков тонкой структуры линии Релея в различных жидкостях, полученные на установке, изображенной на рис. 32. Обработка таких снимков позволяет находить частоты компонент, распределение интенсивности и коэффициент деполяризации. [c.183] Фотографирование тонкой структуры линии Релея в поляризованном свете желательно даже в тех случаях, когда исследования не предусматривают определения коэффициента деполяризации. [c.184] Действительно, как следует из теории явления (см. 6, 7) и данных опыта (см. ниже), компоненты Мандельштама — Бриллюэна и центральная компонента в маловязких жидкостях полностью поляризованы, и поэтому в -компоненте они оказываются неослабленными. На компоненты тонкой структуры накладывается интенсивное и деполяризованное крыло, которое уменьшает контрастность картины и в некоторых случаях ведет к смегдению положения компонент Мандельштама — Бриллюэна и к искажению распределения интенсивности в них. Применение поляризатора уменьшает интенсивность крыла в г-компоненте почти в два раза, и таким путем заметно улучшаются условия измерения. При измерениях частот компонент Мандельштама — Бриллюэна в качестве поляризатора могут быть использованы соответствующим образом ориентированные поляроиды, призмы Глана или Николя. [c.184] Экспозиции в зависимости от фокусов объективов 4 и варьируют от 10 мин до 2 час лля бензола. В интерференционной установке (см.рис. 32) эталон Фабри—Перо поставлен после монохроматора во внешнем параллельном пучке, если пользоваться терминологией Толанского [2391. [c.184] И Стойчевым [244] использована установка с дифракционной решеткой. Вогнутая дифракционная решетка имела фокусное расстояние 10,67 м (35 футов) и устанавливалась по схеме Игла [238, 244]. Линейная дисперсия составляла 0,22 К мм (3,5 см мм в области 2500 А), а разрешаюш ая сила около 300 ООО. Более проста и совершенна установка с интерферометром Фабри — Перо, в которой в качестве источника света используется лазер. [c.186] Такая установка схематически представлена на рис. 33, в ней не нужен и отсутствует монохроматор. Светофильтры, помещенные во входном и выходном отверстиях изотермической камеры, больше нужны для термоизоляции, чем для отделения света спонтанного излучения. В лазере этот последний настолько слабее света вынужденного излучения, что с ним не следует считаться. [c.186] В работе Маша, Старунова и автора [246] использовалось вынужденное излучение линий 6328 А в Ne—Не газовом лазере. Мощность излучения этой линии колебалась от 3 до 6 мет. Экспозиция тонкой структуры для бензола и четыреххлористого углерода составляла 6—12 аде (рис. 33). Когда специальный сосуд с рассеивающей жидкостью помещался внутрь резонатора (лазера), экспозиция сокращалась в несколько раз. [c.186] Для измерения ширины центральной компоненты в растворе полистирола (ширина 100 гц) Куменс и др. [593] применили метод гетеродинирования света и провели измерения зависимости ширины центральной линии тонкой структуры от угла рассеяния. Разрешающая сила их установки равнялась 10 . [c.186] Вернуться к основной статье