ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Интерференционная микроскопия, контраст при расфокусировке, стриоскопия и фазовый контраст из "Металлография железа 1 " Опыты по интерференции в электронном микроскопе показали, что при прохождении электронного пучка через достаточно тонкий материал его когерентность не нарушается . Прошедшая волна может интерферировать с падающей волной. Поэтому в электронной микроскопии можно применять различные методы оптической микроскопии при условии, что достигается достаточно когерентное освещение объекта. [c.17] От наблюдения полос Френеля в электронном микроскопе легко перейти к получению изображений интерференционным методом. [c.17] От одного края интерференционного изображения до другого разность хода изменяется на величину NX, где N — число полос. Обычно наблюдают от300до400 полос, что соответствует разности хода от 10 до 20 A (от 1 до 2 нм) для электронов, ускоренных разностью потенциалов 55 кв (к 0,05 A, или 0,005 нм). [c.17] Прибор, показанный на рис. 19, по конструкции очень похож на электронный микроскоп. [c.17] Если объект помещен в переднюю фокальную плоскость объективной линзы, то последняя дает его изображение в передней фокальной плоскости проекционной линзы. Предположим, что двойная призма помещена между камерами объективной и промежуточной линз и установлена на опоре, которая дает возможность механически центрировать и ориентировать ее. Если на проволоку двойной призмы не подан избыточный потенциал, то изображение объекта пересекается дифракционными полосами проволоки. [c.17] Следовательно, изображение, полученное в общей зоне, с оптической точки зрения является интерференционным. Если одна из областей однородна, то волнистость полос свидетельствует о вариациях оптической толщины второй области. [c.18] При когерентном освещении недофокусировка (или расфокусировка) вызывает появление дифракционной картины Френеля. [c.18] Особенный интерес представляют расфокусированные изображения с периодической структурой. В этом случае можно определять увеличение, измеряя степень расфокусировки. [c.18] Волновая теория образования изображения показывает, что в электронной микроскопии, так же как и в оптической, изменение фазы электронной волны, вызванное прохождением через объект, можно превратить в изменение интенсивности. [c.18] Поэтому некоторые исследователи пытались применить к электронной микроскопии метод фазового контраста, впервые предложенный Цернике и в настоящее время широко используемый в оптической микроскопии (ср. гл. 2, с. 13). [c.18] Первое из этих условий выполняется легко. В электронной микроскопии можно использовать угольную дифракционную пластинку. Внутренний потенциал графита порядка И в. Для X = 0,04 А (0,004 нм) и = 86 кв толщина четвертьволновой дифракционной пластинки е= 180 А (18 нм). Такая тонкая пластинка не нарушает когерентности пучка. [c.18] Второе условие может быть выполнено, если поперечный размер дифракционной пластинки будет порядка Д/а, где а максимальный диаметр детали, контраст которой надо повысить. Пусть этот размер соответствует разрешающей способности прибора, т. е. а = 400 А (40 нм). Для электронного микроскопа, снабженного объективом с фокусным расстоянием / = 3 мм (X = 0,04 А) (0,004 нм), величина Д/а =0,3 мкм. В этом случае значение максимального углового диаметра 2оСс, который должен быть стянут из точки в объекте к источнику, чтобы не перекрыть изображения дифракционной пластинки, мало. При больших увеличениях освещение изображения может оказаться недостаточным. Чтобы облегчить выполнение указанного условия, вместо апертуры конденсора применяют щелевые источники и линейные дифракционные пластинки. [c.18] наконец, дифракционная пластинка должна точно совпадать с задней фокальной плоскостью объективной линзы и должна быть центрирована относительно дифракционной картины. В электронных микроскопах можно получить изображение задней фокальной плоскости при определенном токе промежуточной линзы, так что элемент, расположенный в этой плоскости, можно центрировать так же, как и апертурную диафрагму объектива. Однако при использовании дифракционной пластинки допустимая ошибка центрировки должна быть меньше ширины пластинки, т. е. составлять несколько сотых микрона. Поэтому пластинка должна быть установлена на держателе апертурной диафрагмы, привод которой позволяет сконструировать прецизионное центрирование. Стриоскопическая микрофотография 103/3 была снята в микроскопе с таким устройством. [c.18] Вернуться к основной статье