ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Методы исследования из "Металлография железа 1 " Еще в конце XIX в. был создан первый металлографический микроскоп. Использование в дальнейшем более точных оптических систем, соответствующего освещения и вспомогательного оборудования для темнопольного освещения, фазового контраста, интерференционного контраста, поляризации и других дополнительных средств, позволяющих выявить дополнительные детали изображения, дало возможность улучшить этот микроскоп. Однако сам принцип оптического микроскопа (длина волны видимого света) ограничивает его разрешающую способность приблизительно 1750 Л (175 нм). [c.7] Ультрафиолетовый микроскоп, изобретенный в 1926 г,, обладал разрешающей способностью в 1000 А (100 нм). Этот микроскоп был довольно успешно использован в биологии, однако в металлографии его широко не применяли из-за отсутствия объективных линз, пригодных для отраженного света. [c.7] Что касается рентгеновских лучей, то если бы можно было найти преломляющую среду, способную фокусировать рентгеновские пучки, то были бы сконструированы микроскопы с разрешающей способностью 0,5 А (0,05 нм). [c.7] Бурное развитие теоретической физики привело к представлениям о волновой природе электронов. Уже было известно, что излучение обладает как волновыми, так и корпускулярными свойствами. Оставалось продемонстрировать сначала теоретически, а затем экспериментально, что это относится таклге и к частицам. [c.7] Впервые эта новая концепция была предложена Луи де-Бройлем. Она проложила путь для электронной микроскопии, в которой применение пучка электронов позволило достигнуть весьма больших увеличений. [c.7] Однако сферические аберрации, возникающие наряду с другими ошибками линз из-за дефектов их полюсных наконечников, ограничивают апертуру пучка и, следовательно, разрешающую способность электронных микроскопов. [c.7] В настоящее время доступны микроскопы, имеющие разрешающую способность менее 50 А (5 нм), а многие фирмы могут обеспечить исследовательские институты прецизионными приборами, обладающими разрешением менее 10 А (1 нм). [c.7] Электронный микроскоп дает наибольшее увеличение в том случае, если применяются специальные образцы. Вначале разрешающая способность при исследовании металлов была ограничена из-за использования реплик и обычно не превосходила 150-200 А (15—20 нм). В настоящее время возможность исследования тонких металлических фольг на просвет значительно расширила область иснользова1шя электронного микроскопа в металлографии. [c.7] Имеются и другие типы электронных микроскопов работающие, как и оптические микроскопы, на отражение использующие электроны, испускаемые самим объектом, или пучок ионизированных частиц сканирующие поверхность образца при помощи электронного зонда. [c.7] Все эти приборы дают или видимое изображение поверхности на просветных и флуоресцентных экранах, или скрытое изображение па фотографических эмульсиях. [c.7] Оптический и электронный микроскопы позволяют получить изображение структуры и имеющихся фаз, а рентгеновские лучи совместно с методом флуоресценции картину изменения химического состава образца. [c.7] Рентгеновский и флуоресцентный методы, так же как и авторадиография и микрорадиография, которые будут описаны ниже, дают качественную и количественную информацию о сегрегациях и концентрационных неоднородностях. [c.7] Вернуться к основной статье