ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Константа взаимодействия электронов с фононами в металле из "Метод функций Грина в статистической механике " Одно из возможных применений развитой в 21 общей теории экранирования составляет задача о константе взаимодействия носителей тока с фононами в металле. Действительно, это взаимодействие есть в основном не что иное, как взаимодействие электронов с дополнительным электрическим полем, возникающим при смещении ионов решетки из положений равновесия 2). Именно так и была поставлена задача в работах [17] — [19]. Проблема состоит здесь только в должном учете экранирования поля свободными зарядами. [c.211] В цитированных работах эффект экранирования учитывался либо по способу Томаса — Ферми, либо в приближении самосогласованного поля, либо, наконец, с помощью метода дополнительных переменных. Однако первый способ в применении к твердому телу вызывает серьезные сомнения в силу своей квазиклассичности приближение самосогласованного поля в металлах также связано с рядом математических трудностей (см., например, [20]) наконец, учет экранирования в методе дополнительных переменных, как показано в 21, является лишь приближенным. Мы увидим, что метод функций Грина позволяет дать в принципе точное решение задачи, коль скоро известен закон дисперсии носителей тока в идеальной решетке. [c.211] Обозначим вектор смещения иона из положения равновесия через и х). Дополнительная плотность заряда. [c.211] Эта величина, по-видимому, составляет около 0,3 — 0,4. [c.213] Причина этой связи совершенно очевидна в силу малости фононных частот по сравнению с фермиевской дополнительное поле, связанное с колебаниями решетки, действует на носители тока практически как статическое. [c.214] Нелишне обратить внимание на то, что в рамках развитой здесь методики вывод формулы (26.8) носит почти тривиальный характер. Это (равно как и содержание 24) иллюстрирует возможности полуфеноменологического подхода в рамках метода функций Грина. [c.214] Вернуться к основной статье