ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Теория и демонстрационные опыты Аббе из "Общий курс физики Оптика Т 4 " Как и в случае телескопа, нормальное увеличение микроскопа есть наименьшее увеличение, при котором может быть использована вся разрешающая способность объектива. О целесообразности работать при увеличениях больше нормального для микроскопа можно повторить без всяких изменений все, что выше было сказано относительно телескопа. [c.367] По физиологическим соображениям имеет смысл переходить к несколько большим увеличениям. Однако бессмысленно строить микроскопы с увеличением больше, чем в 1000—1500 раз. [c.367] но для случая освещаемых объектов. Именно этот случай встречается в практике микроскопии. От освещения очень сильно зависит качество изображения в микроскопе. Этот вопрос подвергся глубокому изучению Д. С. - Рождественским (1876—1940) в последние годы его жизни. Ниже излагается метод Аббе с некоторыми изменениями и затрагиваются дополнительные вопросы, связанные с этим методом. [c.368] При изменении х на Ах она изменится на Аф = Ах. [c.369] Следовательно, ширина интерференционной полосы будет Ах = = 2я (2n/d) = d, независимо от направления освещаюш,его пучка лучей. В частности, такая система интерференционных полос возникнет на выходе самой решетки, т. е. в плоскости 2=0. Объектив даст изображение этой системы полос в плоскости изображения, сопряженной с плоскостью решетки (см. 27, пункт 6). Такое изображение передает основной характер структуры решетки — ее периодичность с основЙым периодом d. Распределение интенсивности в плоскости изображения будет синусоидальным, т. е. таким же, какое получилось бы от синусоидальной решетки Рэлея. Чтобы изображение передавало более мелкие детали структуры объекта, необходимо расширить диафрагму. Тогда за решеткой появятся плоские дифрагированные волны, порядки которых отличаются друг от друга не только на единицу, но также на 2, 3,. .. Рассуждая как выше, нетрудно показать, что интерференция двух волн, порядки которых отличаются на Ат, даст интерференционные полосы с шириной Ал = d/Am. [c.369] Структуру решетки можно характеризовать разложением ее пропускаемости в ряд Фурье. Полностью подобное изображение со всеми деталями получилось бы, если бы интенсивность света в плоскости изображения представлялась рядом Фурье с теми же коэффициентами. Однако этого никогда не бывает. Из ряда Фурье выпадают компоненты, соответствующие неоднородным волнам и тем однородным волнам, которые задерживаются диафрагмой. Чем больше дифрагированных волн различных порядков проходит через диафрагму, тем совершеннее получается изображение. [c.369] Мы снова пришли к формуле вида (57.1) или (57.2). [c.372] Еще более интересные искажения наблюдаются в случае двумерной решетки, например, квадратной проволочной сетки. [c.373] В систему вертикальных полос. Если щель повернуть на 90° в вертикальное положение (рис. 221, б), то полосы сделаются горизонтальными, Если щель повернуть параллельно диагонали сетки (рис. 221, в и 221, г), то она выделит прямолинейный ряд максимумов, параллельный той же диагонали, причем расстояния между максимумами увеличатся в У 2 раз. В результате оптическое изображение сетки перейдет в систему наклонных полос, перпендикулярных к щели, а сами полосы сделаются в У 2 раз уже. [c.374] Рождественский указал, что непосредственной причйной появления ложных структур в опытах Аббе является дифракция света на экранируюи ей сетке. В отсутствие последней объектив дает геометрически подобное изображение объекта. Например, сетка из параллельных проволок изображается в виде системы параллельных полос. При введении экранирующей сетки эти полосы остаются на прежних местах. Но на них накладывается дифракционная картина, возникающая при дифракции света на экранирующей сетке. Если экранирующая сетка состоит из проволок, параллельных проволокам сетки-объекта, то возникнут дифракционные полосы, параллельные полосам в прежнем изображении сетки-объекта. При надлежащем периоде экранирующей сетки дифракционные полосы расположатся посередине между прежними полосами. Произойдет удвоение полос в изображении, как если бы проволоки в сетке-объекте были натянуты вдвое чаще. Так же, хотя и не столь просто, объясняется и появление диагоналей, когда объектом является квадратная проволочная сетка. [c.374] Дифракция на экранирующей сетке происходит независимо от того, освещается ли объект посторонним светом или является само-светящимся. Поэтому и в случае самосвечения должны поякляться такие же ложные структуры, как и при освещении. Это было теоретически предсказано Л. И. Мандельштамом (1879—1944) еще в 1911 г. Опыты с накаленными сетками, поставленные самим Мандельштамом, подтвердили это предсказание. [c.374] Вернуться к основной статье