ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Средства контроля физико-меианических параметров из "Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий том 1 " И конических тел вращения и др.). Контроль ведут на воздушно-сухнх изделиях, у которых до операции контроля предшествует предел высокотемпературной обработки (обжига). [c.248] В огнеупорной промышленности при контроле массовых изделий контроль ведут посредством прибора ИНФ-2 и рупорных антенн с раскры-вом от 2,4 X 2,4 до 8 X 8 см. Электрическая длина контролируемых изделий в направлении просвечивания (база просвечивания) в большинстве случаев значительно превышает 2л и полный набег фазы составляет р = = ср -f 2лп, где н = 1, 2, 3,. .. ф — непосредственно измеренный набег фазы 2ля — скрытый набег фазы. [c.248] Величина п для изделий одной марки и одного направления просвечивания, как правило, постоянна и принимается обычно на основании оценочных расчетов, выполненных следующим образом. [c.248] При контроле единичных изделий, например, стаканов и плит шиберного затвора, применяемых для разливки стали (когда экспериментальное построение тарировочного графика невозможно), определение у и П по величине производится расчетным путем по приведенным выше формулам. При этом точность контроля несколько ниже и зависит от полноты учета маскирующих факторов (дифракции и интерференции, связанной с многократным отражением). Выбор зон контроля производится в соответствии с конкретными потребностями. С целью ослабления влияния дифракции зоны контроля (просвечивания) по возможности сдвигаются относительно краев изделий (не менее чем на 2 см). В тех случаях, когда требуется провести контроль именно в краевых зонах, например вокруг отверстия в изделии, применяют поглощающие заглушки, перекрывающие прохождение излучения вне зоны контроля. Следует иметь в виду, что в этом случае построение тарировочного графика возможно только по экспериментальным данным. [c.248] На аналогичном принципе основано действие интерферометра РМИ-01. Он предназначен для неразрушающего контроля плотности, диэлектрических и других параметров изделий из композитных материалов. Интерферометр РМИ-01 производит сравнение сигналов в измерительном и опорном плечах и выделяет информативный сигнал, пропорциональный набегу фазы и изменению амплитуды при взаимодействии излучения СВЧ с зонами неравной плотности исследуемого материала или участка объекта контроля. Выделение указанных параметров производится в автоматическом режиме. [c.248] Прибор РМИ-01 состоит из микро-радиоволнового интерферометриче-ского устройства с автоматически управляемыми электронными фазовращателями. Источником излучения является твердотельный генератор. [c.248] Интерферометрическое устройство может быть установлено на площадке — носителе механической сканирующей установки. [c.249] Повыщенной чувствительностью к относительным изменениям плотности и диэлектрических свойств материалов, определяемым через изменения фазы информативного сигнала, обладает схема преобразователя прибора СФ-ЗОФ, приведенная на рис. 44. [c.249] Основой схемы является двойной волноводный тройник 14. Однако в схеме используется не только сигнал в Е-, но и в Я-плече. Разность двух указанных сигналов в устройстве вычитания YI обладает повышенной крутизной в зависимости от контролируемого параметра по сравнению с традиционно используемым дифференциальным сигналом в -плече. Двойной волноводный тройник 10 используется н качестве направленного ответвителя. [c.249] Отличительной особенностью схемы является возможность проведения фазовых измерений в режиме на отражение . [c.249] Чувствительность и точность прибора СФ-ЗОФ, работающего в трехсантиметровом диапазоне радиоволн, составляют, соответственно, величины 0,1° и Г, Это достигается, в частности, согласованием СВЧ элементов и тракта преобразователя в целом на высоком уровне до значений КСВ 1,02. [c.250] Контроль частоты СВЧ генератора осуществляется волномером 5. [c.250] Для непосредственного измерения диэлектрической проницаемости материалов широко используют интерференционные СВЧ методы. Однако эти методы не всегда применимы в случае крупногабаритных изделий и не применимы совсем, если неизвестна толщина контролируемого материала. В этих условиях, используется частотно-фазовый метод (переменной частоты), рис. 45. [c.250] Метод основан на использовании явления наклона фазового фронта электромагнитной волны при ее распространении вдоль полупроводящей поверхности. Физическая и количественная трактовка этого явления имеет аналитический вид Ig Р = = -j- I. Между плотностью снежного покрова и его диэлектрической проницаемостью существует линейная связь. Таким образом, по углу наклона фазового фронта волны возможно определить плотность снежного покрова. [c.250] Радноврлновый плотномер РП, предназначенный для бесконтактного измерения плотности, состоит из генератора СВЧ, передающей и приемной антенн, индикатора, отсчетного устройства плотности и блока питания. [c.250] Прибор устанавливают на поверхности снега и включают. Стрелка индикатора должна указать на наличие сигнала на приемной антенне. Оператор, поворачивая приемную антенну, добивается нуля по индикатору, затем определяет искомый угол наклона фазового фронта волны над снегом, а отсчетное устройство автоматически переводит значение угла в плотность контролируемой среды. [c.250] Работа прибора основана на определении комплексного коэффициента отражения электромагнитной энергии от полупроводниковой структуры, находящегося в функциональной зависимости от параметров структуры. При контроле в волноводе изменяются фаза и амплитуда стоячей волны. Изменение фазы определяют с помощью специального устройства, имеющего на выходе электронно-лучевую трубку. Компенсация фазовых изменений, вносимых образцом, производится механическим фазовращателем, положение ручки которого при компенсированной фазе показывает реактивное сопротивление измеряемого образца. Стрелочным прибором измеряют амплитуду электромагнитных волн в минимуме и по этому показанию определяют активное сопротивление образца. Размеры щелевого излучателя 4 X X 0,2 мм в 8-миллиметровом диапазоне радиоволн. [c.251] Прогрев прибора перед нача лом работы, мин. . [c.251] Прибор позволяет провести неразрушающий контроль параметров структур в технологическом процессе их создания, без предварительной обработки поверхности перед измерением, что позволяет применять данный прибор в АСУ производством полупроводниковых приборов. [c.251] Вернуться к основной статье