Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама
Метод прямой проверки. Наиболее простым и эффективным способом установления структуры тензоров нелинейных оптических восприимчивостей сред, обладающих известными симметрическими свойствами, является метод прямой проверки, заключающийся в применении операций симметрии, оставляющих инвариантной исследуемую среду (т.е. элементов точечной группы этой среды), поочередно ко всем компонентам интересующего нас тензора. В результате получаются алгебраические соотношения между компонентами искомого тензора, определяющие его структуру.

ПОИСК



Метод прямой проверки

из "Физика мощного лазерного излучения "

Метод прямой проверки. Наиболее простым и эффективным способом установления структуры тензоров нелинейных оптических восприимчивостей сред, обладающих известными симметрическими свойствами, является метод прямой проверки, заключающийся в применении операций симметрии, оставляющих инвариантной исследуемую среду (т.е. элементов точечной группы этой среды), поочередно ко всем компонентам интересующего нас тензора. В результате получаются алгебраические соотношения между компонентами искомого тензора, определяющие его структуру. [c.297]
Правомерность такой процедуры вытекает из кристаллографических принципов Кюри и Неймана согласно последнему принципу, элементы симметрии любого физического свойства среды должны включать элементы симметрии точечной группы данной среды. [c.297]
В методе прямой проверки существенно используются два обстоятельства во-первых, то, что компоненты тензора ранга г преобразуются как произведения г компонент векторов, и, во-вторых, то, что проверке подлежит, как правило, тензор, записанный покомпонентно в главной кристаллографической системе координат, а последняя строится на элементах симметрии исследуемой среды (кристалла), так что оси симметрии и нормали к плоскостям симметрии (элементы точечной группы этой среды) совпадают с координатными осями или занимают какие-либо другие особые положения (например, вдоль биссектрис углов между осями и т.п.). При такой записи число ненулевых компонент тензоров минимально, а сама запись имеет наиболее симметричный вид. [c.297]
Как известно, элементами точечных групп кристаллов могут быть только повороты на углы = 2я/х, где х = 1,2, 3,4и6 — показатель порядка соответствующей поворотной оси симметрии. [c.298]
Примечания. Индексы х, 2 у символов поворотных осей (плоскостей симметрии) означают, что ось симметрии (нормаль к плоскости) совпадает с осями X, , 2 соответственно индекс ху показывает, что ось (нормаль) направлена по биссектрисе угла между осями х, у индекс ху2 — что она направлена по соответствующей объемной биссектрисе символ 4 означает последовательно выполненные операции 4 и 1. [c.298]


Вернуться к основной статье

© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте