ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Толщина слоя половинного ослабления при различных углах падения лучей на образец из "Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов " В таблице приведены значения толщины слоя, поглощающего половину падающего излучения при съемке па прохождение и 75% излучения при съемке на отражение, для различных материалов и излучений. Толщина слоя приведена в мм. [c.37] Ослабление рентгеновских лучей при прохождении через слой вещества зависит от углов падения и отражения лучей. [c.38] Геометрические соотношения, связанные с проникновением лучей в глубь образца при различных методах съемки, рассмотрены в [6, 173]. [c.38] Для метода прохождения толщина. V соответственно уменьшается в 2 раза. [c.38] В таблице приведены толщины слоя, поглощаю1цего 50% излучения при съедп е на прохождение и 75% излучения при съемке на отражение а — угол между первичным пучком и поверхностью (соответствующий углу при съемке по методу шлифа в дебаевской камере и на ионизационной установке). [c.39] Данные, приведенные в таблице, могут быть использованы для исследования поверхностных слоев электроосажденных и шлифованных метал,пов полупроводников и т. д. [6, 389]. [c.39] Вернуться к основной статье