ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Дифракция рентгеновских лучей и дифракция нейтронов из "Жидкие полупроводники " На рис. 3.9 показана относительная вероятность /го разделения кластера при одном составе х для различных значений Хо в системе Т1—Те в случае Л = 20. Неудивительно, что f становится крайне малой при относительно малых значениях (х — Хо), за исключением околокритических составов, где Хо 0,7. Но и в этих случаях величина / почти одинакова для разных значений х. Следовательно, доля объема, который занимает состав Т1гТе или Т1, все еще намного меньше единицы, так как промежуточные составы имеют примерно равную вероятность. Эта точка зрения была пересмотрена некоторыми авторами, которые указывают, что неоднороднБГй перенос может возникнуть в системе Т1—Те с большим содержанием таллия. [c.67] Дифракционные исследования в принципе представляют собой наиболее прямой способ получения информации о структуре жидкости. Для жидких полупроводников таких исследований было проведено сравнительно мало, но целесообразно обсудить возможности этих методов исследования. Наиболее полные обсуждения этих вопросов можно найти в работах Эгельстаффа [76], Вагнера [15], Фабера [87] и Эндерби [233]. Эти работы частично касались жидких полупроводников. [c.67] При определении 5 (С) необходимо внести ряд поправок, которые детально обсуждаются в обзоре Эндерби [233]. Кроме того, экспериментальные ограничения приводят к максимуму в доступной области Q, так что вычисление д г) требует поправки на ограничение пределов в интеграле. Получаемые кривые очень чувствительны к этим поправкам. Поэтому неудивительно, что из разных лабораторий сообщают противоречивые результаты, и в данной области обычно наблюдается отсутствие согласия в выводах о структурах отдельных жидкостей. [c.68] Имея в виду указанные трудности, рассмотрим экспериментальные результаты, полученные Тураном и Брейлем [244] для расплавленного теллура методом дифракции нейтронов. Кривые для д(г) при различных температурах из работы этих авторов показаны на рис. 3.10. Положения пиков, возникающих при малых г, указывают расстояние от данного атома до его ближайших соседей, а площади под пиками указывают среднее число ближайших соседей в каждой координационной сфере. Было найдено, что в жидком теллуре среднее число ближайших соседних атомов при температуре 600°С примерно равно трем с повышением температуры это число увеличивается и при 1700°С приближается к 6. [c.68] Для рентгеновской дифракции форм-факторы, так же как парциальные структурные факторы, зависят от Q. [c.70] ТОГО же сплава при трех различных наборах форм-факторов. Это может быть сделано определением трех различных кривых дифракции нейтронов или двух кривых дифракции нейтронов и одного измерения рентгеновской дифракции при изотопном обогащении сплава для изменения форм-факторов нейтронного рассеяния [84]. Если имеется основание ожидать, что парциальные структурные факторы не зависят от концентрации, то можно использовать только рентгеновские измерения и измерять /(Q) при нескольких концентрациях [120]. [c.71] Работы Эндерби и др. [80, 125], выполненные для систем СигТе и СиТе, пока являются единственными, дающими информацию о парциальных структурных факторах жидких полупроводников. Обсуждение результатов этих работ проведено в гл. 8, 4 здесь следует сделать некоторые замечания о таких дифракционных исследованиях бинарных сплавов вообще. Во-первых, такие исследования требуют сложного специального оборудования (реакторов с потоком нейтронов высокой интенсивности), которое имеется лишь в нескольких местах в мире, и для получения информации даже для одного состава сплава необходимы большие усилия экспериментаторов. [c.71] Второе ограничение состоит в трудности извлечения информации о трехмерной структуре из данных о структурном факторе, уже упоминавшейся для теллура, которая еще увеличивается при изучении бинарных сплавов. Необходимо идти путем построения альтернативных моделей и определения степени, с которой экспериментальные парциальные структурные факторы согласуются со структурными факторами, следующими из этих моделей. Эта проблема является общей для всех дифракционных структурных исследований, и она была с блестящим успехом разрешена для многих больших биохимических молекул. Структура бинарных сплавов, по-видимому, менее сложна, но трудности извлечения информации из возможных моделей значительны. Эти трудности препятствуют тому, чтобы дифракционные исследования стали прямым способом определения структуры. [c.71] Вернуться к основной статье