ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Методы изучения кристаллического строения металлов из "Металловедение Издание 4 1963 " Явление анизотропии иллюстрируется фиг. 13. [c.19] Абсолютное значение свойств в данном направлении определяется величиной вектора, а поверхность тела образуется концами этих векторов. Как следует из рассмотрения фиг. 13, прочность кристалла меди — явно анизотропное свойство. Анизотропными являются и многие другие свойства кристалла. [c.19] Существует много разнообразных способов, при помощи которых изучают кристаллическое строение металлов. Они могут быть разделены на два вида к первому относятся методы для изучения внутреннего строения кристаллов, ко второму — методы для изучения внешних форм кристаллов. [c.19] Внутреннее строение кристаллов, т. е. расположение атомов в кристаллической решетке, изучают посредством рентгеноструктурного анализа, использующего рентгеновские лучи. [c.19] Рентгеновские лучи представляют собой электромагнитные волны весьма малой длины (от 2 до 0,005 А) 1. [c.19] В 1913 г. Ю. В. Вульф (1863—1925), а затем несколько позже В. и В, Брэгги показали, что эту интерференционную картину, рентгенограмму (фиг. 14), можно истолковать как результат интерференции лучей, отраженных от отдельных параллельных атомных плоскостей. [c.20] На этом основании определяются расстояния между атомами, а также и характер расположения атомов в пространстве (т. е. тип кристаллической решетки и ее параметр). Методом рентгеноструктурного анализа были установлены кристаллические решетки всех элементов и многих химических соединений. [c.20] Усовершенствование методики рентгеноструктурного анализа позволяет в настоящее время определить изменения в расположении атомов в зависимости от температуры, давления, состава, напряжений и т. д. [c.20] Размеры, форма и взаимное расположение кристаллов изучаются металлографическими методами. [c.20] Так как все металлы — вещества непрозрачные (для видимого света), то форму кристаллов, а также их размер и взаимное расположение можно изучать на изломах или на шлифах. [c.20] Для рассмотрения микрошлифов при исследовании микроструктуры металлов применяются специальные микроскопы, в которых луч от источника света, отражаясь от шлифа, проходит через объектив и окуляр (системы линз, расположенные около шлифа и глаза наблюдателя), давая соответственное увеличение. [c.20] Из описанного выше ясно, что под макроструктурой мы понимаем грубые детали структуры, выявленные без увеличения, а под микроструктурой — более тонкие детали структуры, выявленные при помощи микроскопа. [c.21] Если между объективом и шлифом поместить среду с большим показателем преломления, чем воздух, например кедровое масло (п= 1,5), то разрешающая способность увеличится в 1,5 раза и станет равной 0,4 мк (4000 А). [c.21] Для изучения дисперсных структур, а также тонких деталей грубых структур (границы зерна, блочное строение и т. д.) внедрен в металлографическую практику новый прибор — электронный микроскоп. [c.22] В качестве освещения в электронном микроскопе использован электронный луч. [c.22] Как видно из формулы (2), разрешающее расстояние определяется длиной волны. [c.22] В поле напряженностью 50 ООО в электронам сообщается скорость 124 ООО км1сек, что соответствует длине волны, равной сотым долям ангстрема. Разрешающая способность современного электронного микроскопа по- имеет размер порядка 5—10 А, однако это его только в том случае, если объект непосред-структуры при помощи электронного ственно исследуется под электронным мик-микроскопа. роскопом. [c.22] Обычно поступают следующим образом. После приготовления микрошлифа на поверхность наносят слой вещества (лак, кварц и др.) очень малой толшины. Образуется слепок. [c.22] Обычно полезное увеличение электронного микроскопа составляет величину порядка 5000—20000 раз, т. е. электронный микроскоп дает полезное увеличение, примерно в 10 раз большее, чем оптический. [c.23] Вернуться к основной статье