ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Технология радиографического контроля из "Сварка Резка Контроль Справочник Том2 " Основные параметры. Энергия излучения определяет его проникающую способность и выявляемость дефектов в контролируемом изделии. [c.266] От мощности Р экспозиционной дозы излучения зависят производительность контроля, а также требования техники безопасности. [c.266] Линейный коэффициент ослабления Цо излучения в материале свидетельствует о проникающих свойствах излучения и выявляемо-сти дефектов. [c.266] Разрешающая способность детектора определяет его способность регистрировать рядом расположенные дефекты и бездефектные участки контролируемого изделия и характеризуется числом линий, равномерно распределенных на единице длины тест-образца. [c.267] Абсолютная чувствительность й абс (в мм) говорит о размере минимально выявляемого дефекта или элемента эталона чувствительности. [c.267] Помимо указанных факторов чувствительность радиографического контроля зависит также от формы и места расположения дефекта, величины фокусного расстояния, фокусного пятна трубки, типа рентгеновской пленки. [c.267] Энергия излучения. Из формулы (16.4) видно, что чем больше линейный коэффициент ослабления 0о, тем меньше размер дефекта, который удается обнаружить. В свою очередь, коэффициент Но зависит от энергии излучения источника. Получение рентгеновского излучения той или иной энергии достигается регулированием напряжения на рентгеновской трубке, энергия у-излучения обусловлена выбором соответствующего радиоактивного изотопа. Влияние энергии рентгеновского и у-излучений на чувствительность контроля показано на рис. 16.41. Как видно из графиков, чувствительность контроля стали одинаковой толщины тем выше, чем меньше энергия излучения. [c.267] Рассеянное излучение в зависимости от энергии первичного излучения изменяет качество снимка, снижает контрастность и четкость изображения, а следовательно, и чувствительность самого метода. При отсутствии рассеяния дефект на пленке будет изображаться с четкими границами (рис. 16.42). Однако практически всегда имеет место рассеяние излучения, нарушающее четкость изображения. Вследствие этого дефекты малого размера становятся трудноразличимыми (размыты границы изображения) и часто могут быть не вьмвлены. [c.267] Рассеяние излучения всегда сильнее в толстостенных материалах (см. рис. 16.42, 5), чем в тонкостенных, поэтому чувствительность метода значительно ухудшается с увеличением толщины просвечиваемого материала. Совершенно избавиться от рассеяния излучения нельзя. Уменьшить его можно специальными фильтрами, представляющими собой тонкий слой оловянной (0,025 мм) или свинцовой (0,075...0,15 мм) фольги, расположенной либо между источником и контролируемым объектом, либо между пленкой и объектом. Рассеяние излучения можно уменьшить также, сократив площадь облучения. Последнее достигается либо при помощи диафрагмы, помещаемой у источника излучения, либо посредством свинцовой маски с отверстием, помещаемой над просвечиваемым объектом. Рассеяние уменьшается, если увеличить расстояние от контролируемого объекта до пленки. [c.268] Толщина материала. Чувствительность более сложным образом зависит от толщины контролируемого материала (рис. 16.43). Вначале чувствительность возрастает вследствие того, что с увеличением толщины материала убывает эффективный коэффициент ослабления. Мягкие составляющие излучения ослабляются сильнее, чем жесткие, и в последующие слои попадает излучение, уже частично отфильтрованное в предыдущих слоях. По мере прохождения через вещество излучение становится все более жестким и при этом одновременно замедляется убывание коэффициента эффективного ослабления он приближается к постоянному значению. Для сравнительно больших толщин подъем кривой (ухудшение чувствительности) объясняется эффектом рассеяния. В итоге ухудшение чувствительности из-за наличия рассеянного излучения определяет предел применяемости всего метода просвечивания материалов до определенной толщины (100...150 мм). [c.268] Форма дефектов и их ориентация в шве. Дефекты (непровары) с прямолинейными гранями, ориентированые параллельно направлению распространения излучения, выявляются значительно лучше из-за большой резкости изображения их границ (рис. 16.44, а), чем дефекты цилиндрической (шлаковые включения), или шаровой (поры), или другой формы (см. рис. 16.44, б, в). Действительно, непровар, как правило, имеет постоянную высоту As по сечению падающего пучка излучения, тогда как у объемных дефектов она переменная, поэтому плотность потемнения изображения в этом случае будет постепенно и равномерно снижаться от максимума, определяемого диаметром дефекта, до плотности потемнения всего поля пленки. Вследствие этого резкость изображения отсутствует, а следовательно, и контрастность снимка, воспринимаемая глазом, значительно ухудшается. [c.268] Тип пленки. В зависимости от типа пленки, обусловленного размером зерна и реакцией к излучению, чувствительность радиографического контроля при прочих равных условиях (энергия излучения, род и толщина материала) может изменяться от 0,5 (РТ-5) до 3 % (РТ). Пленки, обеспечивающие лучшую чувствительность, имеют мелкозернистую структуру и слабую реакцию к излучению, но требуют большего времени для просвечивания. [c.270] При радиографировании изделий соблюдают такую последовательность выполнения основных операций выбирают источник излучения, радиографическую пленку и определяют оптимальные режимы просвечивания просвечивают объект проводят фотообработку снимков и их расшифровку оформляют результаты контроля. [c.270] Выбор источника излучения обусловливается технической целесообразностью и экономической эффективностью. Основными факторами, определяющими выбор источника, являются заданная чувствительность плотность и толщина материала контролируемого изделия производительность контроля конфигурация контролируемой детали доступность ее для контроля и др. [c.270] Например, при контроле изделий, в которых допускаются дефекты большого размера, наиболее целесообразно применять изотопы с высокой энергией, обеспечивающие малое время просвечивания. Для изделий ответственного назначения используют рентгеновское излучение и только как исключение - изотопы, имеющие по возможности наименьшую энергию изл) ения. [c.270] Выбор радиографической пленки осуществляется по толщине и плотности материала просвечиваемого объекта, а также по требуемой производительности и заданной чувствительности контроля. [c.270] Пленку РТ-1 используют главным образом для контроля сварных соединений больших толщин, так как она обладает высокими контрастностью и чувствительностью к излучению. Универсальную экранную пленку РТ-2 применяют при просвечивании деталей различной толщины, при этом время просвечивания по сравнению с другими типами пленок наименьшее. Для контроля изделий из алюминиевых сплавов и сплавов черных металлов небольшой толщины годится высококонтрастная пленка РТ-3 и РТ-4. При дефектоскопии ответственных соединений применяют пленку РТ-5. Эта пленка обладает весьма высокой контрастностью, позволяет выявлять незначительные дефекты, хотя и имеет наименьшую чувствительность к изл) чению, что и увеличивает время экспозиции при контроле. Ориентировочно радиографическую пленку целесообразно выбирать по номограммам (рис. 16.49). [c.270] Для контроля сварных соединений различных типов выбирают одну из схем просвечивания, приведенных на рис. 16.50. Стыковые односторонние соединения без разделки кромок, а также с У-образной разделкой просвечивают, как правило, по нормали к плоскости свариваемых элементов (см. рис. 16.50, схема 1). Швы, выполненные двусторонней сваркой с К-образной разделкой кромок, наиболее целесообразно просвечивать по схеме 2 с применением в ряде случаев двух экспозиций. В этом случае направление центрального луча должно совпадать с линией разделки кромок. Допускается просвечивать эти швы также и по схеме 1. [c.271] При контроле швов нахлесточных, )тло-вых и тавровых соединений центральный луч направляют, как правило, под углом 45° к плоскости листа (схемы 3 - 3). Трубы большого диаметра ( 200 мм) просвечивают через одну стенку, а источник излучения устанавливают снаружи или внутри изделия с направлением оси рабочего пучка перпендикулярно к шву (схемы 9, 77). [c.271] Вернуться к основной статье