ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Наблюдение и измерение интерференционной картины из "Лабораторные оптические приборы " Выбор оптической системы для наблюдения интерференционной картины зависит от параметров конструкции (схемы) интерферометра, параметров наблюдаемой интерференционной картины и целей исследования. Рассмотрим наиболее простой случай наблюдения интерференционной картины через лупу (рис. 111). [c.159] Картина, образованная лучами, проходящими через выходные зрачки 1 и 2 интерферометра, наблюдается в плоскости В (поле интерференции), расположенной между передним фокусом и передней главной плоскостью лупы. Лупа образует мнимое увеличенное изображение В плоскости В. В частном случае поле интерференции может находиться в передней фокальной плоскости лупы и тогда ее изображение будет расположено в бесконечности. Изображения выходных зрачков и Lj находятся в точках L[ и Lj. [c.159] Приведенные соображения о расчете увеличения лупы могут служить основой для расчета увеличения микроскопа или зрительной трубы. [c.160] При определении параметров оптической схемы для фотографирования интерференционной картины необходимо учитывать размеры кадра фото- или киноаппарата. [c.160] В последнее время большое внимание уделяется разработке устройств для регистрации интерференционной картины фотоэлектрическим методом. Сущность метода заключается в следующем. В плоскости поля интерференции располагается щель или непрозрачная диафрагма с отверстием. При движении щели или диафрагмы перпендикулярно направлению интерференционных полос или вдоль диаметра интерференционных колец через щель или отверстие в диафрагме проходит световой поток. За щелью находится фотоэлектрический приемник излучения. Электрические импульсы, полученные с приемника, усиливаются и после преобразования записываются регистрирующим устройством. Очевидно, что сигнал с приемника пропорционален падающему на него световому потоку и зависит от положения щели (отверстия) в поле интерференции. Интенсивность в любой точке поля интерференции при сложении двух колебаний с одинаковой амплитудо определяется по формуле (П1.1). [c.160] Точность измерений зависит от контраста интерференционных полос (колец), размера сканирующей щели (отверстия) и ряда других факторов, свойственных автоматическим регистрирующим приборам. [c.160] Вернуться к основной статье