ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Методы измерения толщины покрытий с разрушением образца из "Гальванотехника справочник " Наиболее точным и универсальным является кулонометрический метод определения толщины покрытия. Метод основан на анодном растворении участка покрытия под действием стабилизированного тока в соответствующем электролите. Количество электричества, затраченное на растворение покрытия, пропорционально толщине этого покрытия. Метод позволяет контролировать однослойные и многослойные покрытия, нанесенные на проводящие, полупроводниковые и диэлектрические основания. Используемые в датчике электролиты химически индеферентны к веществам покрытий и только участвуют в переносе электрических зарядов через объем датчика и определяют его объемное сопротивление. [c.620] Анионы электролита могут принимать участие в электрохимической реакции растворения, которая протекает с выходом по току, равным или близким к 100 % [19.1]. [c.620] Приборы типов и — I я и — I [19.9] следует использовать для измерения толщины покрытий изделий, размеры которых малы, а конфигурация сложна, в том числе покрытий на тонкой проволоке. При этом для контроля тонких покрытий лучше подходит прибор типа и — , так как он обладает низким порогом чувствительности и меньшей производительностью, а для контроля более толстых покрытий — толщиномер и — I. Метод позволяет измерять толщины покрытий Ag, Сё, Ni, Со, 5п, Сг, 2п и др. на проводящих, полупроводниковых и диэлектрических основаниях. [c.621] При измерении толщины этим методом основание изделия не повреждается, растворенный участок покрытия обычно мал и его можно восстановить или изолировать защитным лаком. [c.622] Электролиты, применяемые при кулонометрических определениях толщины покрытий, а также способы их приготовления приведены в ГОСТ 9.302—79. [c.622] В настоящее время еще широко применяются метод снятия капли, метод струи, металлографический метод. Первые два подробно описаны в ГОСТ 9.302—79 и работах [19.2 19.4]. [c.622] Среди физических разрушающих методов наибольшее распространение получил металлографический. Метод используется в основном как арбитражный. Он основан на измерении толщины однослойных и многослойных покрытий на поперечном шлифе при увеличениях 500—1000 крат для покрытий толщиной до 20 мкм и 200 крат для покрытий толщиной более 20 мкм. [c.622] Типы и технические данные металлографических микроскопов приведены в табл. 19.7. [c.622] Изготовление и подготовку шлифов проводят в соответствии с ГОСТ 9.302—79. Производят не менее трех измерений по всей длине шлифа. Относительная погрешность метода 10 %. [c.622] Вернуться к основной статье