ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Лабораторные работы из "Металловедение Издание 3 " Использование электронных лучей, обладающих малой длиной волны, позволяет заметно увеличить разрешающую способность оптической системы. [c.98] Как известно из формулы де-Бройля, длина волны электронов обратно пропорциональна их имп льсу, т. е. [c.98] Электро ы вылетают при нагреве вольфрамовой спирали, являющейся катодом. Между этой спиралью и анодом, находящимся на небольшом расстоянии от спирали, создается мощное электрическое поле, необходимое для повышения скорости движения электронов. Анод представляет пластинку с отверстием посередине. Электроны проходят через отверстие и через расположенную ниже конденсорную линзу. Конденсорная или расположенные далее объективная и проекционные линзы имеют значп-тельное по величине. магнитное или электростатическое поле. [c.100] В соответствии с этим микроскопы могут быть магнитными, электростатическими и смешанными. [c.100] Наиболее распространен просвечивающийся микроскоп, так как до последнего времени еще е удалось использовать элек тронный микроскоп для работы с отраженными электронными лучами. Это объясняется тем, что при отражении электронных лучей от поверхности непрозрачного объекта, например металла, возникает значительная хроматическая аберрация и другие явления, приводящие к резкому снижению разрешающей способности микроскопа и, следовательно, к потере этого основного преимущества электронного микроскопа. [c.101] Однако общее количество рассеянных электронов, проходящих через разные участки объекта, в общем одинаково, и если объективная линза соберет и сфокусирует все электроны, то никакой контрастности изображения не будет. [c.102] Поэтому появится контрастность изображения и создаваемое объективной линзой промежуточное изображение будет отображать строение предмета. Для наблюдения промежуточного изображения имеется специальный флуоресцирующий экран. Изображение на экране рассматривают через специальные окна, расположенные в корпусе микроскопа. [c.102] В центре флуоресцирующего экрана имеется отверстие, через которое часть электронных лучей попадает в проекционную линзу линза создает второе увеличенное (окончательное) изображение, получающееся также на флуоресцирующем экране. [c.102] Изображение может быть рассмотрено с помощью оптического микроскопа, установленного против экрана. Если изображение необходимо зафиксировать, его фотографируют, отводя экран в сторону тогда поток электронов поступает на фотопластинку, после проявления и фиксирования которой получается изображение, соответствующее строению изучавшегося предмета. [c.102] Несколько иначе, чем при исследовании реплик, создается изображение в случае металлических пленок. Точнее говоря. [c.102] Приготовление объектов исследования. Приготовление объекта исследования для электронного микроскопа более сложно, чем изготовление микрошлифа. Объект исследования должен быть прозрачным для электронов и поэтому весьма тонким. Такими объектами являются тонкие металлические пленки или реплики (слепки), полученные с поверхности микрошлифа и отображающие характер этой поверхности, а следовательно, и. структуры металла. [c.104] Химическое полирование применимо только для чистых металлов или однофазных сплавов, так как в сплавах с гетерогенной структурой идет преимущественно растворение только одной из фаз. Более часто применяют метод электролитического полирования. Обычно образец электролитически полируют до тех пор (при остроконечной форме катодов), пока в нем не возникают дыры. Тонкие участки вблизи краев дыр вполне пригодны для наблюдения. [c.104] В ряде случаев путем выбора соответствующего электролита, формы и расположения катода и образца добиваются образования нескольких дыр, промежутки (полоски) между которыми по толщине пригодны для исследования на просвет . Для получения тонких пленок из медных сплавов применяют, например, электролит, состоящий из 33% азотной кислоты и 67% метилового спирта (плотность тока 0,5—0,6 а/сж ), а для получения пленок из сплавов железа применяют электролит 20 частей ледяной уксусной кислоты и 1 часть хлорной кислоты (плотность тока 0,7 а/см ). [c.104] Слепки или реплики надо изготавливать очень тщательно . [c.104] Прежде всего необходимо специально подготовить поверхность микрошлифа. Шлиф подвергают электролитическому полированию и специальному травлению, дающему рельефную поверхность при полном отсутствии на поверхности продуктов травления, что контролируется при помощи оптического микроскопа. [c.105] Шлиф можно также подвергнуть травлению методом газового разряда. В этом случае он является катодом в трубке газового разряда и травление происходит за счет ударов заряженных молекул газа (неона), давление которого 0,5—0,6 мм рт. ст. [c.105] Для получения более резкого рельефа на шлиф иногда осаждают медь, хром или другие вещества в вакуумной камере, что усиливает контрастность изображения. В этом случае поверхность шлифа устанавливают под небольшим углом к направлению движения осаждающихся частиц соответствующих веществ. Осаждение происходит главным образом на выступающие участки шлифа, и поэтому резкость рельефа возрастает. [c.105] С приготовленных микрошлифов изготавливают слепки различными методами. [c.105] Вернуться к основной статье