ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы НАСТЬ ПЕРВАЯ Изучение устройства металлографического микроскопа из "Лабораторный практикум по металлографии и физическим свойствам металлов и сплавов " Приступая к выполнению лабораторных работ, студент должен составить краткий конспект (1,5—2 стр.). В нем должны быть приведены цель работы, необходимые диаграммы, графики и другие материалы, отражающие домашнюю подготовку студента. [c.6] При выполнении лабораторных работ, связанных со структурным анализом (работы б, 11—14, 18—23), студент использует форму отчета. В нее можно внести и дополнительные сведения, более полно характеризующие структуру изученных сплавов. [c.6] Каждая работа рассчитана на два часа, имеются и 4-часовые работы (8, 20, 21, 24). [c.6] О выполненной работе студент должен представить преподавателю отчет, в который следует включить цель работы, описание примененных методов и полученные экспериментальные данные (результаты измерений, термической обработки металлов, изготовления и травления шлифов и др.). [c.6] В заключение необходимо описать полученные результаты в виде выводов (2—3 стр.), нарисовать структуру, графики и схемы использованных приборов. [c.6] Металлографический микроскоп — прибор для наблюдения и фотографирования структуры металлов и сплавов, использующий отраженный свет от непрозрачного объекта — шлифа. Набор объективов и окуляров обеспечивает в современных микроскопах полезное увеличение до 2000 раз. [c.7] Осветительная система микроскопа состоит из лампы 1, которая может центрироваться относительно оптической оси (на схеме оптическая ось микроскопа показана сплошной черной линией), коллекторной линзы 2, проектирующей источник света на плоскость апертурной диафрагмы 5, и набора светофильтров 4. [c.8] Световые фильтры применяют при визуальном наблюдении и при фотографировании, они делают свет более моиохроматич-ным. Поскольку в объективах-ахроматах сферическая аберрация исправлена только в отношении желто-зеленого цвета и глаз человека обладает к указанному цвету большей чувствительностью, для визуального рассмотрения структуры следует применять желто-зеленые светофильтры. [c.9] Для получения лучшего изображения очень важно применять специальные диафрагмы, ограничивающие световые лучи. Диафрагма 5, ограничивающая пучок лучей, входящих в систему микроскопа, называется апертурной, диафрагма 8 — полевой,. так как она ограничивает размер поля, освещаемого на шлифе. Степень раскрытия этих диафрагм меняется в зависимости ог выбранных для работы объектива и окуляра. [c.9] Главное увеличение обеспечивается объективом, оно может достигать 100. Увеличение окуляров не делают больше 20—24. [c.9] Характеристика увеличений объективов и окуляров, входя-1ЦИХ в комплект микроскопов МИМ-7 и МИМ-6, приведена в табл. 1 и 2. [c.9] На рис. 2 показана схема влияния отверстного угла объектива и показателя преломления среды ка разрешающую способность. [c.10] Разрешаюш,ая способность объектива используется полностью только в том случае, если раскрытие апертурной диафрагмы микроскопа обеспечивает полное заполнение светом диафрагмы объектива. Как увидим позже, при правильной установке диафрагм это условие для объективов-ахроматов не реализуется. [c.11] Резкость и контрастность изображения. Резкость и контрастность изображения достигается сложной конструкцией объективов и окуляров, устраняющих частично или полностью оптические дефекты. Однако возможности микроскопа используются наилучшим образом, если исследователь правильно пользуется коллектором 2, полевой и апертурной диафрагмами. Кроме того, для увеличения оптического контраста многие микроскопы позволяют применять специальные методы исследования исследование при косом освещении , метод темнопольного освещения, наблюдение в поляризованном свете и др. [c.11] Для исследования рельефных структур применяют метод косого освещения, когда для передачи изображения используются преимущественно косые, не параллельные оси микроскопа, лучи. Образующиеся при этом освещении тени от выступающих частей структуры усиливают контраст. Косое освещение шлифа осуществляется смещением апертурной диафрагмы с оси. Для наилучшего выявления отдельных элементов структуры может оказаться полезным при этом изменить плоскости падения света на шлиф. Это достигается вращением оправы апертурной диафрагмы 5. [c.11] Метод темнопольного освещения выгодно применять в том случае, когда исследуемый объект имеет фазы, по-различному рассеивающие свет (например, неметаллические включения в металлических сплавах, рельеф). При темнопольном освещении в формировании структуры прямые лучи не участвуют. Зеркально отполированная поверхность объекта при темнопольном освещении кажется темной, участки, вызывающие рассеивание света (рельеф, т. е. впадины, выпуклости), кажутся яркими. При исследовании неметаллических включений легко удается оценить прозрачность включений. [c.11] Для темнопольного освещения линза 10 перемещается вправо, включается тем самым соседняя линза. На микроскопе линза 10 для светлого ноля обозначена буквой С, для темного поля — Т. [c.11] Кроме того, включается специальная откидная диафрагма 22 для того, чтобы на отражательную пластинку И падал параллельный пучок света в виде светового кольца, тем самым прямые лучи при полностью открытой апертурной диафрагме 5 3 изображении участвовать не будут. [c.11] При анализе неметаллических включений и рельефных структур оптический контраст может усиливаться применением поляризованного света, для чего микроскоп снабжен поляризатором 21 для создания плоскополяризованного света и вкладным анализатором 20, который используется для анализа изменений света в результате рассеяния его объективом. Вращением анализатора 20 можно добиться изменения яркости свечения отдельных структурных составляющих и изменения контрастности структуры. [c.12] При работе в светлом поле поляризатор 21 и анализатор 29 хранят в ящике для оптики. [c.12] Вернуться к основной статье