ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Магнитное и магнитно-индукционное измерение толщины слоя покрытия из "Практические вопросы испытания металлов " Обычные приборы для измерения толщины слоя по принципу образцовой катушки вихревого тока, удерживающего (блокировочного) электромагнита, искажения поля, измерения напряженности магнитного поля или магнитного потока, трансформатора. Образцы с различной толщиной слоя покрытия [1, с. 309—329 24, с. 173— 247 31 ]. [c.248] С помощью магнитных и магнитно-индукционных приборов проводится косвенное измерение толщин изделий и толщин слоев покрытий. При этом используется явление наличия зависимости магнитного сопротивления, распределения вихревых токов и других величин, связанных с воздействием магнитного поля, от расстояния или толщины. [c.248] Если оба материала различаются, особенно по магнитной проницаемости (железо — цветной металл железо — неметалл), то следует применить магнитный способ измерения. Если оба материала являются неферромагнитными и различаются по своей электрической проводимости (цветной металл — неметалл), то следует применить способ с индукционным воздействием (метод вихревых токов). [c.248] Минимальное напряжение. С помош,ью регулируюш,его трансформатора необходимо искусственно постепенно снижать рабочее напряжение у измерительных приборов, питающихся от электрической сети. Питающее напряжение необходимо контролировать с помощью вольтметра. Нанести на график изменение измеряемых значений относительно питающего напряжения. [c.249] Эффект размыкания. На образце с известной и постоянной толщиной слоя покрытия искусственно произвести постепенно размыкание измерительной индикаторной головки путем подкладывания неметаллической фольги. Величину эффекта размыкания следует нанести на график относительно толщины промежуточных помещенных фольг. [c.249] Наклонение магнитное) измерительной индикаторной головки. На образце с известной и постоянной толщиной слоя покрытия необходимо исследовать влияние наклонения измерительной индикаторной головки, наклоняя постепенно измерительную индикаторную головку с помощью соответствующего приспособления и замеряя наклонение угломером. Следует нанести на график изменение измеренных значений относительно наклонения измерительной индикаторной головки. [c.249] Искривление поверхности образца. Влияние радиуса кривизны можно измерить, сгибая листовой образец с известной толщиной слоя поверх цилиндрической оправки из неметаллического материала, обточенного на несколько ступеней, или изготовив эталонную оправку, обточенную на несколько ступеней, но равномерно покрытую слоями покрытия. Изменение измеренных значений следует нанести на график относительно радиуса кривизны. [c.249] Влияние кромок. К образцу с постоянной и известной толщиной слоя покрытия постепенно приблизить измерительную индикаторную головку к краю кромки образца и нанести изменение измеренной величины на график относительно расстояния от кромки образца. [c.249] Толщина образца. Необходимо взять достаточно толстый и равномерно покрытый слоем образец и на обратной стороне на достаточно широком участке удалить часть металла, уменьшив толщину основного образца. Изменение измеряемых значений следует нанести на график относительно толщины основного материала. [c.249] Подобным же образом может быть исследовано влияние электрической проводимости. [c.250] Внешние поля. Образцы, которые обнаруживают наличие ферромагнетизма основного материала, следует намагнитить в катушке с постоянным током. Затем с помощью измерителя напряженности магнитного поля (компаратора) нужно замерить остаточное поле. Следует проверить, как изменяется показание измеряемой величины при различной напряженности остаточного магнитного поля. Эта задача может варьироваться таким образом, чтобы при измерении образец и измерительная индикаторная головка вводились в намагничивающую катушку с достаточно большим внутренним диаметром или чтобы образцы накладывались на магнитное ярмо. [c.250] Вид воздействующих факторов определяется имеющимися в наличии измерительными приборами и материалом образца. По результатам эксперимента следует сделать выводы о пределах применимости измерительного прибора. [c.250] Вернуться к основной статье