ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Составление диаграммы экспонирования из "Практические вопросы испытания металлов " Установка с источником излучения, техническая рентгеновская пленка, экранная пленка, прибор для определения плотности, ступенчатый клип из исследуемого материала. [c.172] Облучение должно выбираться так, чтобы оптическая плотность проявляемой пленки находилась в области, в которой значение g будет наибольшим. Такое значение имеется на спуске прямолинейного участка характеристической кривой. Так как конец провисания характеристической кривой с увеличением энергии облучения смещается к более высоким значениям плотности, а также зависит от материала пленки (для ogo, конец провисания находится при D = l,3- 1,5), то в качестве желаемой средней плотности при поглощении у-излучения выбирается плотность D = 2,0. При такой плотности пленка хорошо пронизывается светом стандартных источников излучения. [c.172] Диаграммы освещенности для источников у-излучения строятся так, что по оси ординат откладывается величина излучения Я = = I i в логарифмическом масштабе, а по оси абсцисс — толщина материала d (I — интенсивность облучения). [c.172] В качестве переменного параметра выбирается расстояние от источника излучения до пленки при определенной плотности или плотность при определенном расстоянии от источника излучения до пленки. [c.172] Ослабление интенсивности облучения с увеличением энергии излучения сначала уменьшается (см. опыт 29). Поэтому при заданном объеме изображения оцениваемый размер объекта с увеличением энергии излучения возрастает. [c.172] При расстоянии от источника излучения до пленки 70 см необходимо произвести последовательно несколько съемок ступенчатого клина с различным временем излучения 1, но при одинаковой интенсивности и энергии излучения. Съемки следует повторить при одинаковой энергии излучения с другими сортами пленок. Необходимо провести съемки также при различной энергии излучения. После обработки пленки (проявления, фикси- рования, промывания, высуши-вания) с помощью фотометра В, в рассеянном свете определяются величины плотности отдельных ступенек клина. [c.173] - толщина материала с ,-, которая наносится на вторую диаграмму (освещенность — толщина материала). [c.173] Для заданного расстояния е при двух или трех различных толщинах материала и соответствующем значении экспозиции вычисляют по диаграмме для е = 70 см значения В , и полученные точки соединяют прямой. [c.173] Следует оценить влияние энергии излучения при одинаковом виде пленки и соответственно влияние типа пленки при одинаковой энергии излучения. [c.174] Вернуться к основной статье